深入解析 onsemi FQP17N40 N 溝道 MOSFET
在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET 作為關(guān)鍵的功率開關(guān)器件,其性能直接影響著電路的效率和穩(wěn)定性。今天,我們就來深入剖析 onsemi 推出的 FQP17N40 N 溝道增強(qiáng)型功率 MOSFET,探索它的特性、參數(shù)及應(yīng)用。
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一、產(chǎn)品概述
FQP17N40 采用 onsemi 專有的平面條紋和 DMOS 技術(shù)制造。這種先進(jìn)的 MOSFET 技術(shù)經(jīng)過特別優(yōu)化,旨在降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。它適用于開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用場(chǎng)景。
二、產(chǎn)品特性
2.1 電氣性能
- 電流與電壓能力:能夠承受 16A 的連續(xù)漏極電流((T_C = 25^{circ}C)),在 (TC = 100^{circ}C) 時(shí),連續(xù)漏極電流為 10.1A,脈沖漏極電流可達(dá) 64A。漏源電壓 (V{DSS}) 最大為 400V,能滿足多種高壓應(yīng)用需求。
- 低導(dǎo)通電阻:在 (V{GS}=10V)、(I{D}=8.0A) 的條件下,(R_{DS(on)}) 最大為 270 mΩ,低導(dǎo)通電阻有助于降低功率損耗,提高電路效率。
- 低柵極電荷:典型柵極電荷為 45 nC,這使得 MOSFET 的開關(guān)速度更快,減少了開關(guān)過程中的能量損耗。
- 低 (C_{rss}):典型 (C_{rss}) 為 30 pF,有助于降低米勒效應(yīng)的影響,提高開關(guān)性能。
2.2 可靠性
- 雪崩測(cè)試:該器件經(jīng)過 100% 雪崩測(cè)試,具有良好的雪崩能量強(qiáng)度,能在惡劣的工作條件下保持穩(wěn)定。
- 無鉛設(shè)計(jì):符合環(huán)保要求,滿足現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)綠色環(huán)保的需求。
三、絕對(duì)最大額定值
| 在使用 FQP17N40 時(shí),必須嚴(yán)格遵守其絕對(duì)最大額定值,否則可能會(huì)損壞器件,影響其可靠性。以下是一些關(guān)鍵的絕對(duì)最大額定值: | 參數(shù) | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 (V_{DSS}) | 400 | V | |
| 連續(xù)漏極電流((T_C = 25^{circ}C)) | 16 | A | |
| 連續(xù)漏極電流((T_C = 100^{circ}C)) | 10.1 | A | |
| 脈沖漏極電流 | 64 | A | |
| 柵源電壓 (V_{GS}) | ±30 | V | |
| 單脈沖雪崩能量 (E_{AS}) | 1000 | mJ | |
| 雪崩電流 (I_{AR}) | 16 | A | |
| 重復(fù)雪崩能量 (E_{AR}) | 17 | mJ | |
| 峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) | 4.5 | V/ns | |
| 功率耗散((T_C = 25^{circ}C)) | 170 | W | |
| 25°C 以上的降額系數(shù) | 1.35 | W/°C | |
| 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 | -55 至 +150 | °C | |
| 焊接時(shí)引腳最大溫度(距外殼 1/8”,5 秒) | 300 | °C |
四、熱特性
| 熱特性對(duì)于 MOSFET 的性能和可靠性至關(guān)重要。FQP17N40 的熱阻參數(shù)如下: | 符號(hào) | 參數(shù) | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| (R_{θJC}) | 結(jié)到外殼的熱阻(最大) | 0.74 | °C/W | |
| (R_{θJA}) | 結(jié)到環(huán)境的熱阻(最大) | 62.5 | °C/W |
合理的散熱設(shè)計(jì)可以有效降低 MOSFET 的結(jié)溫,提高其工作穩(wěn)定性和壽命。大家在設(shè)計(jì)散熱方案時(shí),會(huì)優(yōu)先考慮哪些因素呢?
五、電氣特性
5.1 關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓 (BV_{DSS}):在 (V{GS}=0V)、(I{D}=250mu A) 的條件下確定,其擊穿電壓溫度系數(shù) (ATJ) 為 0.44 V/°C((I{D}=250mu A),參考 (25^{circ}C))。
- 零柵壓漏極電流 (I_{DSS}):在 (V{DS}=400V)、(V{GS}=0V) 時(shí),典型值為 1μA;在 (V_{DS}=320V)、(T_C = 125^{circ}C) 時(shí),典型值為 10μA。
- 柵體泄漏電流:正向柵體泄漏電流((V{GS}=30V)、(V{DS}=0V))最大為 100nA,反向柵體泄漏電流((V{GS}=-30V)、(V{DS}=0V))最大為 -100nA。
5.2 導(dǎo)通特性
- 柵源閾值電壓 (V_{GS(th)}):在 (V{DS}=V{GS})、(I_{D}=250mu A) 的條件下,范圍為 3.0V 至 5.0V。
- 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}):在 (V{GS}=10V)、(I{D}=8.0A) 時(shí),典型值為 0.21Ω,最大值為 0.27Ω。
- 正向跨導(dǎo) (g_{Fs}):在 (V{DS}=50V)、(I{D}=8.0A) 時(shí),典型值為 13。
5.3 動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容 (C_{iss}):在 (V{DS}=25V)、(V{GS}=0V)、(f = 1.0MHz) 時(shí),范圍為 1800pF 至 2300pF。
- 輸出電容 (C_{oss}):范圍為 270pF 至 350pF。
- 反向傳輸電容 (C_{rss}):范圍為 30pF 至 40pF。
5.4 開關(guān)特性
- 開通延遲時(shí)間 (t_{d(on)}):在 (RG = 25Ω)、(V{DD}=200V)、(I_{D}=17.2A) 的條件下,范圍為 40ns 至 90ns。
- 開通上升時(shí)間 (t_{r}):范圍為 185ns 至 380ns。
- 關(guān)斷延遲時(shí)間 (t_{d(off)}):范圍為 90ns 至 190ns。
- 關(guān)斷下降時(shí)間 (t_{f}):范圍為 105ns 至 220ns。
- 總柵極電荷 (Q_g):在 (V{DS}=320V)、(I{D}=17.2A)、(V_{GS}=10V) 時(shí),范圍為 45nC 至 60nC。
- 柵源電荷 (Q_{gs}):為 11.4nC。
- 柵漏電荷 (Q_{gd}):為 21.7nC。
5.5 漏源二極管特性和最大額定值
- 最大脈沖漏源二極管正向電流 (I_{SM}) 為 64A,最大正向電流 (I_S) 為 16A,正向電壓為 1.5V。
六、典型特性曲線
文檔中提供了一系列典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流與外殼溫度的關(guān)系以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線可以幫助工程師更好地了解 FQP17N40 在不同工作條件下的性能表現(xiàn),從而進(jìn)行更合理的電路設(shè)計(jì)。
七、封裝信息
FQP17N40 采用 TO - 220 - 3 封裝,這種封裝具有良好的散熱性能和機(jī)械穩(wěn)定性。每管裝 1000 個(gè)器件。關(guān)于卷帶包裝規(guī)格,可參考 BRD8011/D 手冊(cè)。同時(shí),文檔還提供了詳細(xì)的封裝尺寸信息和標(biāo)記圖,方便工程師進(jìn)行 PCB 布局設(shè)計(jì)。
八、總結(jié)
FQP17N40 N 溝道 MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、高雪崩能量強(qiáng)度等優(yōu)異特性,適用于多種開關(guān)電源和功率因數(shù)校正等應(yīng)用。在設(shè)計(jì)電路時(shí),工程師需要根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需求,結(jié)合其絕對(duì)最大額定值、電氣特性和熱特性等參數(shù),進(jìn)行合理的選型和設(shè)計(jì),確保電路的性能和可靠性。大家在使用類似 MOSFET 時(shí),有沒有遇到過一些特殊的問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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電子設(shè)計(jì)
+關(guān)注
關(guān)注
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