安森美NVCW3SS0D5N03CLA單通道N溝道功率MOSFET深度剖析
在電子工程師的設(shè)計(jì)工作中,功率 MOSFET 是常用的關(guān)鍵元件之一。在眾多的功率 MOSFET 產(chǎn)品中,安森美(onsemi)的 NVCW3SS0D5N03CLA 引起了不少工程師的關(guān)注。今天,我們就來(lái)深入剖析這款 30V 單通道 N 溝道功率 MOSFET。
產(chǎn)品特性亮點(diǎn)
低導(dǎo)通電阻
該 MOSFET 的典型導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)}) 表現(xiàn)出色,在 (V{GS}=10V) 時(shí),典型值為 (0.43mΩ)。低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,MOSFET 的功率損耗較小,能夠有效降低系統(tǒng)的發(fā)熱,提高能源效率。這在對(duì)功耗要求較高的應(yīng)用中尤為重要,比如一些便攜式電子設(shè)備。
特定的柵極電荷
在 (V{GS}=10V) 時(shí),典型的總柵極電荷 (Q{g(tot)}) 為 (139nC)。柵極電荷的大小會(huì)影響 MOSFET 的開(kāi)關(guān)速度,合適的柵極電荷能夠在保證開(kāi)關(guān)速度的同時(shí),減少開(kāi)關(guān)損耗。
汽車(chē)級(jí)認(rèn)證與環(huán)保特性
該產(chǎn)品通過(guò)了 AEC - Q101 認(rèn)證,這表明它符合汽車(chē)級(jí)應(yīng)用的嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn),能夠在汽車(chē)電子等對(duì)可靠性要求極高的環(huán)境中穩(wěn)定工作。同時(shí),它還符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),體現(xiàn)了環(huán)保理念,滿(mǎn)足了現(xiàn)代電子產(chǎn)品對(duì)環(huán)保的要求。
產(chǎn)品詳細(xì)參數(shù)
尺寸與材料
| 參數(shù) | 詳情 |
|---|---|
| 芯片尺寸 | 3683x3000(單位未明確,推測(cè)為μm) |
| 劃片寬度 | 80(單位未明確,推測(cè)為μm) |
| 源極連接面積 | 3462x2708(單位未明確,推測(cè)為μm) |
| 柵極連接面積 | 200x200(單位未明確,推測(cè)為μm) |
| 芯片厚度 | 76.2(單位未明確,推測(cè)為μm) |
芯片的柵極采用 (AlCu) 材料,源極采用 (Ti - NiV - Ag) 材料,漏極(芯片背面)采用 (Ti - Ni - Ag) 材料,鈍化層為聚酰亞胺。晶圓直徑為 8 英寸,總芯片數(shù)量為 2458 顆。
訂購(gòu)與存儲(chǔ)信息
產(chǎn)品以未切割的晶圓形式提供,放置在環(huán)形框架上。推薦的存儲(chǔ)條件為溫度 22 至 28°C,相對(duì)濕度 44% 至 66%。
電氣特性
絕對(duì)最大額定值
| 參數(shù) | 額定值 | 單位 |
|---|---|---|
| 漏源電壓 (V_{DSS}) | 30 | V |
| 柵源電壓 (V_{GS}) | ±20 | V |
| 連續(xù)漏極電流 (I{D})((T{C}=25°C)) | 370 | A |
| 功率耗散 (P{D})((T{C}=25°C)) | 161 | W |
| 單脈沖雪崩能量 (E{AS})((I{L(pk)} = 35A)) | 862 | mJ |
| 工作和存儲(chǔ)溫度 (T{J}, T{STG}) | –55 至 +175 | °C |
需要注意的是,超過(guò)這些最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。
電氣參數(shù)
| 參數(shù) | 條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| 漏源擊穿電壓 (B{V{DSS}}) | (I{D}=250A, V{GS}=0V) | 30 | - | - | V |
| 漏源泄漏電流 (I_{DSS}) | (V{DS}=24V, V{GS}=0V) | - | - | 1 | A |
| 柵源泄漏電流 (I_{GSS}) | (V{GS}=20V, V{DS}=0V) | - | - | 100 | nA |
| 柵源閾值電壓 (V_{GS(th)}) | (V{GS}=V{DS}, I_{D}=250A) | 1.3 | 2.2 | - | V |
| 漏源導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}) | (I{D}=30A, V{GS}=10V) | - | 0.43 | 0.52 | mΩ |
| 漏源導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}) | (I{D}=30A, V{GS}=4.5V) | 0.68 | 0.85 | - | mΩ |
不過(guò),對(duì)于這種薄芯片,由于芯片形式下測(cè)試接觸精度的限制,精確的 (R{DS(on)}) 測(cè)試在芯片級(jí)不可行。最大 (R{DS(on)}) 規(guī)格是根據(jù)封裝芯片的歷史性能定義的,但在生產(chǎn)中不通過(guò)測(cè)試保證。芯片的 (R_{DS(on)}) 性能還取決于源極引線(xiàn)/鍵合帶的布局。
開(kāi)關(guān)特性
| 參數(shù) | 條件 | 典型值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 導(dǎo)通延遲時(shí)間 (t_{d(on)}) | (V{GS}=4.5V, V{DS}=15V, I{D}=15A, R{G}=3.0Ω) | 29 | ns |
| 上升時(shí)間 (t_{r}) | - | 68 | ns |
| 關(guān)斷延遲時(shí)間 (t_{d(off)}) | - | 53 | ns |
| 下降時(shí)間 (t_{f}) | - | 36 | ns |
典型特性曲線(xiàn)
文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線(xiàn),這些曲線(xiàn)直觀(guān)地展示了 MOSFET 在不同條件下的性能表現(xiàn)。
- 導(dǎo)通區(qū)域特性曲線(xiàn):展示了不同柵源電壓下,漏極電流與漏源電壓的關(guān)系。
- 傳輸特性曲線(xiàn):體現(xiàn)了不同結(jié)溫下,漏極電流與柵源電壓的關(guān)系。
- 導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系曲線(xiàn):顯示了導(dǎo)通電阻隨柵源電壓的變化情況。
- 導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓關(guān)系曲線(xiàn):反映了導(dǎo)通電阻在不同漏極電流和柵極電壓下的變化。
- 導(dǎo)通電阻隨溫度變化曲線(xiàn):表明了導(dǎo)通電阻受溫度的影響。
- 漏源泄漏電流與電壓關(guān)系曲線(xiàn):展示了漏源泄漏電流隨漏源電壓的變化。
- 電容變化曲線(xiàn):呈現(xiàn)了輸入電容、輸出電容和反向傳輸電容隨漏源電壓的變化。
- 柵源和漏源電壓與總電荷關(guān)系曲線(xiàn):體現(xiàn)了柵源和漏源電壓與總柵極電荷的關(guān)系。
- 電阻性開(kāi)關(guān)時(shí)間隨柵極電阻變化曲線(xiàn):顯示了開(kāi)關(guān)時(shí)間受柵極電阻的影響。
- 二極管正向電壓與電流關(guān)系曲線(xiàn):展示了二極管正向電壓與電流的關(guān)系。
- 最大額定正向偏置安全工作區(qū)曲線(xiàn):界定了 MOSFET 在不同條件下的安全工作范圍。
- 熱阻曲線(xiàn):體現(xiàn)了熱阻隨時(shí)間的變化。
- 雪崩特性曲線(xiàn):展示了雪崩電流隨時(shí)間的變化。
設(shè)計(jì)應(yīng)用思考
在實(shí)際設(shè)計(jì)中,電子工程師需要根據(jù)具體的應(yīng)用場(chǎng)景和需求,綜合考慮這款 MOSFET 的各項(xiàng)特性。例如,在對(duì)功耗要求較高的應(yīng)用中,低導(dǎo)通電阻的特性能夠有效降低系統(tǒng)的發(fā)熱;而在對(duì)開(kāi)關(guān)速度要求較高的應(yīng)用中,合適的柵極電荷和開(kāi)關(guān)特性則更為關(guān)鍵。同時(shí),由于該產(chǎn)品通過(guò)了汽車(chē)級(jí)認(rèn)證,在汽車(chē)電子領(lǐng)域也有很大的應(yīng)用潛力。
大家在使用這款 MOSFET 進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí),有沒(méi)有遇到過(guò)什么特別的問(wèn)題或者有什么獨(dú)特的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)?zāi)??歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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