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深入解析 onsemi NVTFS030N06C N 溝道 MOSFET

lhl545545 ? 2026-04-08 15:05 ? 次閱讀
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深入解析 onsemi NVTFS030N06C N 溝道 MOSFET

引言

在電子設(shè)計領(lǐng)域,MOSFET 作為關(guān)鍵的功率器件,廣泛應(yīng)用于各種電路中。onsemi 的 NVTFS030N06C N 溝道 MOSFET 以其出色的性能和特性,成為眾多工程師的首選。本文將深入解析這款 MOSFET 的各項參數(shù)、特點(diǎn)及應(yīng)用,為電子工程師在設(shè)計中提供參考。

文件下載:NVTFS030N06C-D.PDF

產(chǎn)品概述

NVTFS030N06C 是一款 N 溝道的功率 MOSFET,具有 60V 的漏源電壓(V(BR)DSS)、最大 29.7mΩ 的導(dǎo)通電阻(RDS(on))以及 19A 的連續(xù)漏極電流(ID MAX)。其采用 3.3 x 3.3mm 的小尺寸封裝,適合緊湊型設(shè)計。

產(chǎn)品特點(diǎn)

  1. 小尺寸封裝:3.3 x 3.3mm 的小尺寸,為緊湊型設(shè)計提供了可能,可有效節(jié)省電路板空間。
  2. 低導(dǎo)通電阻:低 (R_{DS(on)}) 能最大程度地減少傳導(dǎo)損耗,提高電路效率。
  3. 低柵極電荷和電容:低 (Q_{G}) 和電容可降低驅(qū)動損耗,提升開關(guān)速度。
  4. 可焊側(cè)翼選項:NVTFWS030N06C 提供可焊側(cè)翼選項,增強(qiáng)了光學(xué)檢測的效果。
  5. 汽車級認(rèn)證:通過 AEC - Q101 認(rèn)證,具備 PPAP 能力,適用于汽車電子等對可靠性要求較高的應(yīng)用。
  6. 環(huán)保特性:這些器件無鉛、無鹵素/BFR 且符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn)。

典型應(yīng)用

NVTFS030N06C 適用于多種應(yīng)用場景,包括電動工具、電池驅(qū)動的真空吸塵器、無人機(jī)、物料搬運(yùn)設(shè)備、電池管理系統(tǒng)(BMS)/存儲以及家庭自動化等。

電氣特性

最大額定值

參數(shù) 符號 單位
漏源電壓 VDSS 60 V
柵源電壓 VGS ±20 V
連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) ID 19 A
連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) ID 13 A
功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) PD 23 W
功率耗散((T_{C}=100^{circ}C)) PD 11 W
連續(xù)漏極電流((T_{A}=25^{circ}C)) ID 6 A
連續(xù)漏極電流((T_{A}=100^{circ}C)) ID 4 A
功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) PD 2.5 W
功率耗散((T_{A}=100^{circ}C)) PD 1.2 W
脈沖漏極電流((T{A}=25^{circ}C),(t{p}=10s)) IDM 86 A
工作結(jié)溫和存儲溫度范圍 (T{J}),(T{stg}) -55 至 +175 °C
源極電流(體二極管 IS 19 A
單脈沖漏源雪崩能量((I_{L(pk)} = 4.6A)) EAS 11 mJ
引腳溫度(焊接回流,距外殼 1/8 英寸,10s) TL 260 °C

電氣特性參數(shù)

參數(shù) 符號 測試條件 最小值 典型值 最大值 單位
漏源擊穿電壓 V(BR)DSS (V_{GS}=0V),(I = 250mu A) 60 - - V
漏源擊穿電壓溫度系數(shù) (V(BR)DSS/T_{J}) (I_{D}=250mu A),參考 25°C - - 32 mV/°C
零柵壓漏極電流 (I_{DSS}) (V{GS}=0V),(V{DS}=60V),(T = 125°C) - - 250 (mu A)
零柵壓漏極電流 (I_{DSS}) (V{GS}=0V),(V{DS}=60V),(T = 25°C) - - 10 (mu A)
柵源泄漏電流 (I_{GSS}) (V{DS}=0V),(V{GS}=20V) - - 100 nA
柵極閾值電壓 (V_{GS(TH)}) (V{GS}=V{DS}),(I_{D}=13A) 2.0 - 4.0 V
負(fù)閾值溫度系數(shù) (V{GS(TH)}/T{J}) (I = 13A),參考 25°C - - -7.9 mV/°C
漏源導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}) (V{GS}=10V),(I{D}=3A) - 24.7 29.7
正向跨導(dǎo) (g_{fs}) (V{DS}=5V),(I{D}=3A) - 8.5 - S
柵極電阻 (R_{G}) (T_{A}=25°C) - 1.5 - Ω

電荷和電容參數(shù)

參數(shù) 符號 測試條件 最小值 典型值 最大值 單位
輸入電容 (C_{iss}) (V{GS}=0V),(f = 1MHz),(V{DS}=30V) 255 - - pF
輸出電容 (C_{oss}) - - 173 - pF
反向傳輸電容 (C_{rss}) - - 4.4 - pF
總柵極電荷 (Q_{G(TOT)}) - - 4.7 - nC
閾值柵極電荷 (Q_{G(TH)}) - - 1.1 - nC
柵源電荷 (Q_{GS}) (V{GS}=10V),(V{DS}=48V),(I_{D}=3A) - 1.7 - nC
柵漏電荷 (Q_{GD}) - - 0.54 - nC

開關(guān)特性參數(shù)

參數(shù) 符號 測試條件 最小值 典型值 最大值 單位
導(dǎo)通延遲時間 (t_{d(on)}) - - 5.7 - ns
上升時間 (t_{r}) (V{GS}=10V),(V{DS}=48V),(I{D}=3A),(R{G}=6Omega) - 1.2 - ns
關(guān)斷延遲時間 (t_{d(off)}) (V{GS}=10V),(V{DS}=48V),(I{D}=3A),(R{G}=6Omega) - 8.7 - ns
下降時間 (t_{f}) - - 2.3 - ns

漏源二極管特性參數(shù)

參數(shù) 符號 測試條件 最小值 典型值 最大值 單位
正向二極管電壓((T = 125°C)) (V_{SD}) (V{GS}=0V),(I{S}=3A) 0.82 - 1.2 V
正向二極管電壓((T = 25°C)) (V_{SD}) (V{GS}=0V),(I{S}=3A) 0.68 - - V
反向恢復(fù)時間 (t_{RR}) - - 21 - ns
放電時間 (t_{a}) (V{GS}=0V),(dI{S}/dt = 100A/s),(V{DS}=30V),(I{S}=3A) - 11 - ns
充電時間 (t_) (V{GS}=0V),(dI{S}/dt = 100A/s),(V{DS}=30V),(I{S}=3A) - 10 - ns
反向恢復(fù)電荷 (Q_{RR}) - - 9.7 - nC

典型特性曲線

文檔中給出了多個典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度變化、漏源泄漏電流與電壓關(guān)系、電容變化、柵源和漏源電壓與總電荷關(guān)系、電阻性開關(guān)時間隨柵極電阻變化、二極管正向電壓與電流關(guān)系、安全工作區(qū)、最大漏極電流與雪崩時間關(guān)系以及熱響應(yīng)等曲線。這些曲線直觀地展示了 NVTFS030N06C 在不同條件下的性能表現(xiàn),工程師可以根據(jù)這些曲線進(jìn)行電路設(shè)計和性能評估。

封裝與訂購信息

封裝尺寸

NVTFS030N06C 采用 WDFN8 3.3x3.3, 0.65P 封裝(CASE 511AB)和 WDFNW8 3.3x3.3, 0.65P(Full - Cut 8FL WF,CASE 515AN)封裝,文檔詳細(xì)給出了這兩種封裝的尺寸信息,包括各個尺寸的最小值、標(biāo)稱值和最大值,單位有毫米和英寸兩種。

訂購信息

器件標(biāo)記 封裝 包裝方式
NVTFS030N06CTAG 30NC (Pb - Free) 8FL 1500 / 卷帶包裝
NVTFWS030N06CTAG 30NW 8FL (Pb - Free, Wettable Flanks) 1500 / 卷帶包裝

總結(jié)

onsemi 的 NVTFS030N06C N 溝道 MOSFET 以其小尺寸、低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷和電容等優(yōu)點(diǎn),適用于多種應(yīng)用場景。通過對其電氣特性、典型特性曲線以及封裝和訂購信息的了解,電子工程師可以更好地將其應(yīng)用于實際設(shè)計中。在使用過程中,需要注意其最大額定值,避免超過極限參數(shù)導(dǎo)致器件損壞。同時,根據(jù)具體應(yīng)用需求,結(jié)合典型特性曲線進(jìn)行電路優(yōu)化設(shè)計,以充分發(fā)揮該 MOSFET 的性能優(yōu)勢。

你在實際設(shè)計中是否使用過類似的 MOSFET 呢?在使用過程中遇到過哪些問題?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和見解。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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