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深入解析 Onsemi NVMFS6H864NL 功率 MOSFET

lhl545545 ? 2026-04-09 09:30 ? 次閱讀
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深入解析 Onsemi NVMFS6H864NL 功率 MOSFET

在電子電路設(shè)計(jì)中,功率 MOSFET 作為關(guān)鍵的開(kāi)關(guān)元件,對(duì)電路性能起著至關(guān)重要的作用。今天我們就來(lái)詳細(xì)解析 Onsemi 推出的 NVMFS6H864NL 單通道 N 溝道功率 MOSFET。

文件下載:NVMFS6H864NL-D.PDF

產(chǎn)品特性亮點(diǎn)

緊湊設(shè)計(jì)

NVMFS6H864NL 采用 5x6 mm 的小尺寸封裝,這對(duì)于追求緊湊設(shè)計(jì)的電子產(chǎn)品來(lái)說(shuō)是一個(gè)巨大的優(yōu)勢(shì)。在如今產(chǎn)品越來(lái)越小型化的趨勢(shì)下,這種小尺寸封裝能夠幫助工程師在有限的空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)更多的功能。

低損耗性能

  • 低導(dǎo)通電阻((R_{DS(on)})):低 (R_{DS(on)}) 能夠有效減少導(dǎo)通損耗,提高電路的效率。在實(shí)際應(yīng)用中,這意味著更少的能量浪費(fèi)和更低的發(fā)熱,有助于提升系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。
  • 低柵極電荷((Q_{G}))和電容:低 (Q_{G}) 和電容可以降低驅(qū)動(dòng)損耗,減少驅(qū)動(dòng)電路的功耗,從而進(jìn)一步提高整個(gè)系統(tǒng)的效率。

可焊性與質(zhì)量認(rèn)證

  • 可焊?jìng)?cè)翼選項(xiàng):NVMFS6H864NLWF 提供可焊?jìng)?cè)翼選項(xiàng),這對(duì)于光學(xué)檢查非常有利,能夠提高焊接質(zhì)量的檢測(cè)效率和準(zhǔn)確性。
  • 汽車(chē)級(jí)認(rèn)證:該器件通過(guò)了 AEC - Q101 認(rèn)證,并且具備 PPAP 能力,這表明它符合汽車(chē)行業(yè)的嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn),可應(yīng)用于汽車(chē)電子等對(duì)可靠性要求極高的領(lǐng)域。
  • 環(huán)保標(biāo)準(zhǔn):產(chǎn)品無(wú)鉛且符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),符合環(huán)保要求,也滿足了市場(chǎng)對(duì)綠色電子產(chǎn)品的需求。

關(guān)鍵參數(shù)解讀

最大額定值

參數(shù) 符號(hào) 數(shù)值 單位
漏源電壓 (V_{DSS}) 80 V
柵源電壓 (V_{GS}) ±20 V
穩(wěn)態(tài)連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) (I_{D}) 22 A
穩(wěn)態(tài)連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) (I_{D}) 15 A
功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) (P_{D}) 33 W
功率耗散((T_{C}=100^{circ}C)) (P_{D}) 17 W
脈沖漏極電流((T{A}=25^{circ}C),(t{p}=10mu s)) (I_{DM}) 97 A
工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 (T{J}),(T{stg}) - 55 至 +175 °C
源極電流(體二極管 (I_{S}) 28 A
單脈沖漏源雪崩能量((I_{L(pk)} = 1.0 A)) (E_{AS}) 68 mJ
焊接用引腳溫度(距外殼 1/8″,10 s) (T_{L}) 260 °C

需要注意的是,超過(guò)最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。

熱阻參數(shù)

參數(shù) 符號(hào) 數(shù)值 單位
結(jié)到殼熱阻(穩(wěn)態(tài)) (R_{JC}) 4.6 °C/W
結(jié)到環(huán)境熱阻(穩(wěn)態(tài)) (R_{JA}) 43 °C/W

熱阻參數(shù)會(huì)受到整個(gè)應(yīng)用環(huán)境的影響,并非恒定值,僅在特定條件下有效。例如,器件表面貼裝在使用 (650 mm^{2})、2 oz. 銅焊盤(pán)的 FR4 板上時(shí)適用。

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓((V_{(BR)DSS})):在 (V{GS}=0 V),(I{D}=250mu A) 時(shí),最小值為 80 V。
  • 漏源擊穿電壓溫度系數(shù):為 47.8 mV/°C。
  • 零柵壓漏極電流((I_{DSS})):在 (V{GS}=0 V),(V{DS}=80 V) 時(shí),(T{J}=25^{circ}C) 時(shí)為 10(mu A),(T{J}=125^{circ}C) 時(shí)為 100(mu A)。
  • 柵源漏電電流((I_{GSS})):在 (V{DS}=0 V),(V{GS}=20 V) 時(shí),最大值為 100 nA。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓((V_{GS(TH)})):在 (V{GS}=V{DS}),(I_{D}=20mu A) 時(shí),典型值在 1.2 - 2.0 V 之間。
  • 閾值溫度系數(shù):為 - 5.2 mV/°C。
  • 漏源導(dǎo)通電阻((R_{DS(on)})):(V{GS}=10 V),(I{D}=5 A) 時(shí),典型值為 24 - 29 m(Omega);(V{GS}=4.5 V),(I{D}=5 A) 時(shí),典型值為 30 - 38 m(Omega)。
  • 正向跨導(dǎo)((g_{FS})):在 (V{DS}=8 V),(I{D}=5 A) 時(shí),為 24 S。

電荷、電容和柵極電阻特性

  • 輸入電容((C_{ISS})):在 (V{GS}=0 V),(f = 1 MHz),(V{DS}=40 V) 時(shí),為 431 pF。
  • 輸出電容((C_{OSS})):為 55 pF。
  • 反向傳輸電容((C_{RSS})):為 4 pF。
  • 總柵極電荷((Q_{G(TOT)})):在 (V{GS}=10 V),(V{DS}=40 V),(I_{D}=10 A) 時(shí),為 9 nC。
  • 閾值柵極電荷((Q_{G(TH)})):在 (V{GS}=4.5 V),(V{DS}=40 V),(I_{D}=10 A) 時(shí),為 1 nC。
  • 柵源電荷((Q_{GS})):為 1.7 nC。
  • 柵漏電荷((Q_{GD})):為 1.4 nC。
  • 平臺(tái)電壓((V_{GP})):為 3.2 V。

開(kāi)關(guān)特性

參數(shù) 數(shù)值 單位
開(kāi)啟延遲時(shí)間((t_{d(ON)})) 8 ns
上升時(shí)間((t_{r})) 6 ns
關(guān)斷延遲時(shí)間((t_{d(OFF)})) 12 ns
下降時(shí)間((t_{f})) 4 ns

開(kāi)關(guān)特性與工作結(jié)溫?zé)o關(guān)。

漏源二極管特性

參數(shù) (T_{J}=25^{circ}C) (T_{J}=125^{circ}C)
正向二極管電壓 - -
反向恢復(fù)時(shí)間((I_{S}=10A)) 17 - 8 ns
電荷時(shí)間 - -
反向恢復(fù)電荷((Q_{RR})) - -

典型特性曲線

文檔中還提供了一系列典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度變化、漏源泄漏電流與電壓關(guān)系、電容變化、柵源和漏源電壓與總電荷關(guān)系、電阻性開(kāi)關(guān)時(shí)間與柵極電阻關(guān)系、二極管正向電壓與電流關(guān)系、安全工作區(qū)、最大漏極電流與雪崩時(shí)間關(guān)系以及熱響應(yīng)等曲線。這些曲線能夠幫助工程師更直觀地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn),從而更好地進(jìn)行電路設(shè)計(jì)。

訂購(gòu)信息與封裝尺寸

訂購(gòu)信息

器件型號(hào) 器件標(biāo)記 封裝 包裝
NVMFS6H864NLT1G 6H864L DFN5(無(wú)鉛) 1500 / 卷帶包裝
NVMFS6H864NLWFT1G 864LWF DFNW5(無(wú)鉛,可焊?jìng)?cè)翼) 1500 / 卷帶包裝

封裝尺寸

文檔詳細(xì)給出了 DFN5 和 DFNW5 兩種封裝的機(jī)械尺寸圖和具體尺寸參數(shù),包括長(zhǎng)度、寬度、高度、引腳間距等信息。同時(shí),還提供了推薦的焊接焊盤(pán)尺寸和通用標(biāo)記圖。在進(jìn)行 PCB 設(shè)計(jì)時(shí),工程師需要根據(jù)這些尺寸信息合理布局器件,確保焊接質(zhì)量和電氣性能。

總結(jié)

Onsemi 的 NVMFS6H864NL 功率 MOSFET 以其緊湊的設(shè)計(jì)、低損耗性能、良好的可焊性和嚴(yán)格的質(zhì)量認(rèn)證,為電子工程師在設(shè)計(jì)各類電路時(shí)提供了一個(gè)可靠的選擇。通過(guò)深入了解其各項(xiàng)參數(shù)和特性,工程師能夠更好地將其應(yīng)用于實(shí)際項(xiàng)目中,優(yōu)化電路性能。大家在使用過(guò)程中,是否也遇到過(guò)類似器件在不同應(yīng)用場(chǎng)景下的性能差異呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見(jiàn)解。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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