3月25日至27日,全球半導(dǎo)體行業(yè)矚目的SEMICON China 2026在上海新國際博覽中心盛大舉行。華興源創(chuàng)攜多款半導(dǎo)體核心測試設(shè)備及解決方案精彩亮相,展示了公司在SoC測試、PXIe平臺架構(gòu)及光學(xué)檢測等領(lǐng)域的技術(shù)積淀與創(chuàng)新成果。
展會期間,華興源創(chuàng)展臺吸引了眾多客戶、合作伙伴及專業(yè)觀眾駐足交流,共同探討半導(dǎo)體測試技術(shù)的前沿趨勢與應(yīng)用實踐。
三大展品矩陣,詮釋全棧測試能力
本次參展,華興源創(chuàng)重點展出了三大核心板塊,覆蓋了從晶圓級、芯片級到系統(tǒng)級的全棧測試解決方案。
T7600系列SoC測試機(jī)
作為華興源創(chuàng)在高端測試領(lǐng)域的核心產(chǎn)品,T7600系列此次展出了T7600M機(jī)型。該系列采用自主研發(fā)的數(shù)字板卡技術(shù),其中DP128數(shù)字板卡支持128通道、最高速率達(dá)400Mbps。T7600M作為12槽機(jī)型,數(shù)字通道最高支持1536通道,電源通道支持144路。目前,已在指紋、圖像傳感、MCU、TOF等芯片測試上實現(xiàn)量產(chǎn)。
PXIe平臺測試設(shè)備
針對當(dāng)前半導(dǎo)體測試對靈活性與模塊化的要求,華興源創(chuàng)展示了完整的PXIe產(chǎn)品生態(tài):
機(jī)箱系列:6槽機(jī)箱、12槽機(jī)箱。
板卡系列:經(jīng)過多年深耕,華興源創(chuàng)目前已擁有電源、數(shù)字、模擬、射頻等多款自主研發(fā)板卡,可覆蓋大多數(shù)消費類電子芯片的測試需求。
T60小型芯片測試機(jī):基于PXIe架構(gòu)的新一代小型化測試設(shè)備,易擴(kuò)展、靈活通用的同時,提高了設(shè)備在產(chǎn)線中的易維護(hù)性。適用于AD/DA、射頻前端、小型SoC、傳感器、PMIC等小型芯片的測試。
TS1800射頻測試機(jī):射頻測試頻率最高可達(dá)10GHz,支持SPI、MIPI和自定義數(shù)字通信庫,具備32個雙向射頻端口,可滿足WiFi6/7 PA、5G NR等射頻前端模組測試需求。已在國內(nèi)芯片龍頭企業(yè)實現(xiàn)穩(wěn)定量產(chǎn)。
AOI&解鍵合/臨時解鍵合檢測解決方案
面對先進(jìn)封裝帶來的微米級檢測挑戰(zhàn),華興源創(chuàng)展會現(xiàn)場展示了AOI晶圓檢測及解鍵合/臨時解鍵合檢測解決方案。
AOI晶圓檢測設(shè)備采用高定位精度移動平臺結(jié)合超高幀率數(shù)據(jù)采集能力,支持明場/暗場多模式成像,并融合深度學(xué)習(xí)算法實現(xiàn)缺陷自動分類,為提升晶圓制造良率提供了技術(shù)保障,可有效釋放人力、節(jié)約成本。
此次SEMICON展會,華興源創(chuàng)以覆蓋“大功率、高精度、模塊化、光學(xué)檢測”的全方位測試能力,彰顯了公司在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的深厚積累。未來,華興源創(chuàng)將以更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和解決方案,助力全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展。
SEMICON CHINA,我們明年見!
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