FDB12N50TM N-Channel UniFET? MOSFET:特性、應(yīng)用與設(shè)計(jì)要點(diǎn)
引言
在電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中,MOSFET是一種常見(jiàn)且關(guān)鍵的元件。今天我們要深入探討的是FDB12N50TM這款N - Channel UniFET? MOSFET,它由Fairchild Semiconductor推出,如今Fairchild已成為ON Semiconductor的一部分。這款MOSFET在諸多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,下面我們就來(lái)詳細(xì)了解它的各項(xiàng)特性、應(yīng)用場(chǎng)景以及設(shè)計(jì)時(shí)的注意事項(xiàng)。
文件下載:FDB12N50TM-D.pdf
產(chǎn)品整合說(shuō)明
由于Fairchild Semiconductor與ON Semiconductor的整合,部分Fairchild可訂購(gòu)的零件編號(hào)需要更改以滿足ON Semiconductor的系統(tǒng)要求。因?yàn)镺N Semiconductor的產(chǎn)品管理系統(tǒng)無(wú)法處理帶有下劃線()的零件命名,所以Fairchild零件編號(hào)中的下劃線()將改為破折號(hào)(-)。大家在使用時(shí),可通過(guò)ON Semiconductor網(wǎng)站(www.onsemi.com)驗(yàn)證更新后的設(shè)備編號(hào)。
FDB12N50TM MOSFET特性
基本參數(shù)
- 電壓與電流:具有500V的漏源電壓((V{DSS})),連續(xù)漏極電流在(T{C}=25^{circ}C)時(shí)為11.5A,(T{C}=100^{circ}C)時(shí)為6.9A,脈沖漏極電流((I{DM}))可達(dá)46A。
- 導(dǎo)通電阻:在(V{GS}=10V),(I{D}=6A)的典型條件下,(R_{DS(on)} = 550mOmega),這一低導(dǎo)通電阻特性有助于降低功率損耗。
- 電容特性:輸入電容((C{iss}))典型值為985pF,輸出電容((C{oss}))典型值為140pF,反向傳輸電容((C_{rss}))典型值為12pF,低電容值有利于提高開關(guān)速度。
- 門極電荷:總門極電荷((Q{g}))在(V{DS}=400V),(I{D}=11.5A),(V{GS}=10V)時(shí)典型值為22nC,低門極電荷可減少開關(guān)損耗。
其他特性
- 雪崩測(cè)試:經(jīng)過(guò)100%雪崩測(cè)試,具有較高的雪崩能量強(qiáng)度,能在惡劣環(huán)境下穩(wěn)定工作。
- 環(huán)保標(biāo)準(zhǔn):符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。
應(yīng)用場(chǎng)景
照明領(lǐng)域
在照明系統(tǒng)中,F(xiàn)DB12N50TM可用于驅(qū)動(dòng)LED燈或其他光源,其低導(dǎo)通電阻和良好的開關(guān)性能有助于提高照明系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。
不間斷電源(UPS)
UPS需要在市電中斷時(shí)迅速切換到備用電源,F(xiàn)DB12N50TM的快速開關(guān)特性和高耐壓能力使其能夠滿足UPS的要求,確保電源的穩(wěn)定供應(yīng)。
AC - DC電源供應(yīng)
在AC - DC電源轉(zhuǎn)換中,該MOSFET可用于功率因數(shù)校正(PFC)電路,提高電源的功率因數(shù),減少電能損耗。
電氣特性與參數(shù)
最大額定值
| 符號(hào) | 參數(shù) | FDB12N50TM | 單位 |
|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源電壓 | 500 | V |
| (V_{GSS}) | 柵源電壓 | ±30 | V |
| (I_{D}) | 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) | 11.5 | A |
| (I_{D}) | 連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) | 6.9 | A |
| (I_{DM}) | 脈沖漏極電流 | 46 | A |
| (E_{AS}) | 單脈沖雪崩能量 | 456 | mJ |
| (I_{AR}) | 雪崩電流 | 11.5 | A |
| (E_{AR}) | 重復(fù)雪崩能量 | 16.7 | mJ |
| (dv/dt) | 峰值二極管恢復(fù)(dv/dt) | 4.5 | V/ns |
| (P_{D}) | 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | 165 | W |
| (P_{D}) | 25°C以上降額 | 1.33 | W/°C |
| (T{J}, T{STG}) | 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 | -55 to +150 | °C |
| (T_{L}) | 焊接時(shí)最大引腳溫度 | 300 | °C |
電氣特性
| 符號(hào) | 參數(shù) | 測(cè)試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| (BV_{DSS}) | 漏源擊穿電壓 | (I{D}=250mu A),(V{GS}=0V),(T_{J}=25^{circ}C) | 500 | - | - | V |
| (Delta BV{DSS} / Delta T{J}) | 擊穿電壓溫度系數(shù) | (I_{D}=250mu A),參考25°C | - | 0.66 | - | V/°C |
| (I_{DSS}) | 零柵壓漏極電流 | (V{DS}=500V),(V{GS}=0V) | - | - | 1 | (mu A) |
| (I_{DSS}) | 零柵壓漏極電流 | (V{DS}=400V),(T{C}=125^{circ}C) | - | - | 10 | (mu A) |
| (I_{GSS}) | 柵體泄漏電流 | (V{GS}=±30V),(V{DS}=0V) | - | - | ±100 | nA |
| (V_{GS(th)}) | 柵閾值電壓 | (V{GS}=V{DS}),(I_{D}=250mu A) | 3.0 | - | 5.0 | V |
| (R_{DS(on)}) | 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 | (V{GS}=10V),(I{D}=6A) | - | 0.55 | 0.65 | (Omega) |
| (g_{FS}) | 正向跨導(dǎo) | (V{DS}=25V),(I{D}=6A) | - | 11 | - | S |
| (C_{iss}) | 輸入電容 | (V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1MHz) | - | 985 | 1315 | pF |
| (C_{oss}) | 輸出電容 | - | 140 | 190 | pF | |
| (C_{rss}) | 反向傳輸電容 | - | 12 | 17 | pF | |
| (Q_{g}) | 10V時(shí)總門極電荷 | (V{DS}=400V),(I{D}=11.5A),(V_{GS}=10V) | - | 22 | 30 | nC |
| (Q_{gs}) | 柵源門極電荷 | - | 6 | - | nC | |
| (Q_{gd}) | 柵漏“米勒”電荷 | - | 10 | - | nC | |
| (t_{d(on)}) | 導(dǎo)通延遲時(shí)間 | - | - | 25 | 60 | ns |
| (t_{r}) | 導(dǎo)通上升時(shí)間 | (V{DD}=250V),(I{D}=11.5A) | - | 60 | 130 | ns |
| (t_{d(off)}) | 關(guān)斷延遲時(shí)間 | (R_{G}=25Omega) | - | 45 | 105 | ns |
| (t_{f}) | 關(guān)斷下降時(shí)間 | - | - | 35 | 85 | ns |
| (I_{S}) | 最大連續(xù)漏源二極管正向電流 | - | - | - | 11.5 | A |
| (I_{SM}) | 最大脈沖漏源二極管正向電流 | - | - | - | 46 | A |
| (V_{SD}) | 漏源二極管正向電壓 | (V{GS}=0V),(I{SD}=11.5A) | - | - | 1.4 | V |
| (t_{rr}) | 反向恢復(fù)時(shí)間 | (V{GS}=0V),(I{SD}=11.5A) | - | 370 | - | ns |
| (Q_{rr}) | 反向恢復(fù)電荷 | (dI_{F}/dt = 100A/mu s) | - | 3.8 | - | (mu C) |
典型特性曲線
文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、門極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨殼溫的變化以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線能幫助工程師更好地了解該MOSFET在不同條件下的性能表現(xiàn),從而在設(shè)計(jì)中做出更合理的選擇。
設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)
零件編號(hào)更改
如前文所述,由于Fairchild與ON Semiconductor的整合,要注意零件編號(hào)的變化,及時(shí)通過(guò)ON Semiconductor網(wǎng)站驗(yàn)證更新后的編號(hào)。
應(yīng)用限制
ON Semiconductor產(chǎn)品不設(shè)計(jì)、不打算也未獲授權(quán)用于生命支持系統(tǒng)、FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備或具有相同或類似分類的外國(guó)醫(yī)療設(shè)備以及植入人體的設(shè)備。如果購(gòu)買或使用這些產(chǎn)品用于未預(yù)期或未授權(quán)的應(yīng)用,買方需承擔(dān)相應(yīng)責(zé)任。
參數(shù)驗(yàn)證
“典型”參數(shù)在不同應(yīng)用中可能會(huì)有所變化,實(shí)際性能也可能隨時(shí)間改變。所有工作參數(shù),包括“典型值”,都必須由客戶的技術(shù)專家針對(duì)每個(gè)客戶應(yīng)用進(jìn)行驗(yàn)證。
總結(jié)
FDB12N50TM N - Channel UniFET? MOSFET以其低導(dǎo)通電阻、低門極電荷、良好的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度等特性,在照明、UPS和AC - DC電源供應(yīng)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景。電子工程師在設(shè)計(jì)過(guò)程中,應(yīng)充分了解其各項(xiàng)特性和參數(shù),結(jié)合實(shí)際應(yīng)用需求,合理選擇和使用該MOSFET,同時(shí)注意整合帶來(lái)的零件編號(hào)變化以及應(yīng)用限制等問(wèn)題。大家在實(shí)際使用中是否遇到過(guò)類似MOSFET的一些特殊問(wèn)題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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