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FDD5N60NZ N-Channel UniFET? II MOSFET:高性能MOSFET的技術(shù)解析

lhl545545 ? 2026-03-29 11:10 ? 次閱讀
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FDD5N60NZ N-Channel UniFET? II MOSFET:高性能MOSFET的技術(shù)解析

在電子工程領(lǐng)域,MOSFET(金屬 - 氧化物 - 半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)作為重要的電子元件,廣泛應(yīng)用于各種電路設(shè)計(jì)中。今天,我們就來(lái)深入了解一下FDD5N60NZ這款N - Channel UniFET? II MOSFET。

文件下載:FDD5N60NZ-D.pdf

一、產(chǎn)品背景與變更說(shuō)明

Fairchild Semiconductor已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分Fairchild可訂購(gòu)的零件編號(hào)需要更改,原編號(hào)中的下劃線(_)將改為破折號(hào)( - )。大家可以在ON Semiconductor網(wǎng)站上核實(shí)更新后的設(shè)備編號(hào),最新的訂購(gòu)信息也可在該網(wǎng)站獲取。若有關(guān)于系統(tǒng)集成的問(wèn)題,可發(fā)郵件至Fairchild_questions@onsemi.com。

二、FDD5N60NZ MOSFET特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)

1. 基本參數(shù)

FDD5N60NZ是一款600V、4.0A、2Ω的N - 通道UniFET? II MOSFET。在(V{GS}=10V),(I{D}=2.0A)的條件下,典型的靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻(R_{DS(on)})為1.65Ω 。

2. 電氣特性優(yōu)勢(shì)

  • 低柵極電荷:典型值為10nC,這意味著在開關(guān)過(guò)程中,能夠更快地對(duì)柵極進(jìn)行充電和放電,從而提高開關(guān)速度,降低開關(guān)損耗。
  • 低(C_{rss}):典型值為5pF,較小的反向傳輸電容有助于減少米勒效應(yīng)的影響,進(jìn)一步提升開關(guān)性能。
  • 雪崩測(cè)試:經(jīng)過(guò)100%雪崩測(cè)試,說(shuō)明該MOSFET在承受雪崩能量方面表現(xiàn)出色,具有較高的可靠性和穩(wěn)定性。
  • 改善的dv/dt能力:能夠更好地應(yīng)對(duì)電壓變化率,減少因電壓突變而導(dǎo)致的損壞風(fēng)險(xiǎn)。
  • ESD改善能力:內(nèi)部柵源ESD二極管使得該MOSFET能夠承受超過(guò)2kV的HBM(人體模型)浪涌應(yīng)力,增強(qiáng)了對(duì)靜電的防護(hù)能力。
  • 符合RoHS標(biāo)準(zhǔn):滿足環(huán)保要求,符合現(xiàn)代電子產(chǎn)品對(duì)環(huán)保的需求。

三、應(yīng)用領(lǐng)域

FDD5N60NZ適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景,包括但不限于:

  • 顯示設(shè)備:如LCD/LED/PDP TV等,為顯示設(shè)備的電源電路提供穩(wěn)定的開關(guān)控制。
  • 照明領(lǐng)域:可用于各類照明設(shè)備的驅(qū)動(dòng)電路,提高照明系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。
  • 不間斷電源(UPS):在UPS系統(tǒng)中,該MOSFET能夠?qū)崿F(xiàn)高效的功率轉(zhuǎn)換和開關(guān)控制,確保電源的穩(wěn)定輸出。

四、產(chǎn)品參數(shù)詳解

1. 最大額定值

符號(hào) 參數(shù) FDD5N60NZ值 單位
(V_{DSS}) 漏源電壓 600 V
(V_{GSS}) 柵源電壓 ±25 V
(I{D})((T{C}=25^{circ}C)) 連續(xù)漏極電流 4.0 A
(I{D})((T{C}=100^{circ}C)) 連續(xù)漏極電流 2.4 A
(I_{DM}) 脈沖漏極電流 16 A
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 216 mJ
(I_{AR}) 雪崩電流 4.0 A
(E_{AR}) 重復(fù)雪崩能量 8.3 mJ
(dv/dt) 峰值二極管恢復(fù)dv/dt 10 V/ns
(P{D})((T{C}=25^{circ}C)) 功率耗散 83 W
(P{D})((T{C})大于25°C時(shí)降額) 功率耗散降額 0.7 W/°C
(T{J}),(T{STG}) 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 - 55至 + 150 °C
(T_{L}) 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼1/8”,5秒) 300 °C

2. 熱特性

符號(hào) 參數(shù) FDD5N60NZ值 單位
(R_{θJC}) 結(jié)到外殼的熱阻(最大) 1.5 °C/W
(R_{θJA}) 結(jié)到環(huán)境的熱阻(最大) 90 °C/W

3. 電氣特性

  • 關(guān)斷特性:如漏源擊穿電壓(B{VDSS})在(I{D}=250μA),(V{GS}=0V),(T{J}=25^{circ}C)時(shí)為600V;零柵壓漏極電流(I_{DSS})在不同條件下有不同的值。
  • 導(dǎo)通特性:柵極閾值電壓(V{GS(th)})在(V{GS}=V{DS}),(I{D}=250μA)時(shí)為3.0 - 5.0V;靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻(R{DS(on)})在(V{GS}=10V),(I_{D}=2.0A)時(shí)為1.65 - 2.00Ω。
  • 動(dòng)態(tài)特性:輸入電容(C{iss})、輸出電容(C{oss})、反向傳輸電容(C_{rss})等都有相應(yīng)的典型值和范圍。
  • 開關(guān)特性:包括導(dǎo)通延遲時(shí)間(t{d(on)})、導(dǎo)通上升時(shí)間(t{r})、關(guān)斷延遲時(shí)間(t{d(off)})和關(guān)斷下降時(shí)間(t{f})等。
  • 漏源二極管特性:如最大連續(xù)漏源二極管正向電流(I{S})為4.0A,最大脈沖漏源二極管正向電流(I{SM})為16A等。

五、典型性能特性

文檔中還給出了一系列典型性能特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、轉(zhuǎn)移特性、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性等。這些曲線能夠幫助工程師更直觀地了解該MOSFET在不同工作條件下的性能表現(xiàn)。

六、注意事項(xiàng)

1. 產(chǎn)品使用限制

ON Semiconductor產(chǎn)品不設(shè)計(jì)、不打算也未獲授權(quán)用于生命支持系統(tǒng)、FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備或類似分類的醫(yī)療設(shè)備以及人體植入設(shè)備。如果購(gòu)買或使用該產(chǎn)品用于非預(yù)期或未授權(quán)的應(yīng)用,買方需承擔(dān)相應(yīng)責(zé)任。

2. 產(chǎn)品狀態(tài)定義

產(chǎn)品狀態(tài)分為不同類型,如提前信息(Formative / In Design)、初步(First Production)、無(wú)標(biāo)識(shí)(Full Production)和過(guò)時(shí)(Not In Production),每種狀態(tài)有其對(duì)應(yīng)的定義和特點(diǎn),工程師在使用時(shí)需注意。

3. 反假冒政策

Fairchild Semiconductor采取了強(qiáng)有力的措施來(lái)保護(hù)自身和客戶免受假冒零件的侵害,建議客戶直接從Fairchild或其授權(quán)經(jīng)銷商處購(gòu)買產(chǎn)品,以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可追溯性。

在實(shí)際的電子設(shè)計(jì)中,我們需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,綜合考慮FDD5N60NZ的各項(xiàng)參數(shù)和特性,合理選擇和使用該MOSFET,以實(shí)現(xiàn)最佳的電路性能。大家在使用過(guò)程中遇到過(guò)哪些關(guān)于MOSFET的問(wèn)題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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