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onsemi FQA13N80-F109 N溝道MOSFET的特性與應用解析

lhl545545 ? 2026-03-29 14:55 ? 次閱讀
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onsemi FQA13N80-F109 N溝道MOSFET的特性與應用解析

在電子工程領域,MOSFET作為一種關鍵的功率器件,廣泛應用于各類電源電路設計中。今天,我們就來詳細探討一下安森美(onsemi)的FQA13N80 - F109 N溝道增強型功率MOSFET。

文件下載:FQA13N80_F109-D.PDF

產(chǎn)品概述

FQA13N80 - F109采用了安森美專有的平面條紋和DMOS技術。這種先進的MOSFET技術經(jīng)過特別設計,旨在降低導通電阻,同時提供卓越的開關性能和高雪崩能量強度。該器件適用于開關模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)以及電子燈鎮(zhèn)流器等應用場景。

關鍵特性

電氣參數(shù)

  • 電流與電壓:它能夠承受800V的漏源電壓($V_{DSS}$),連續(xù)漏極電流($I_D$)在$T_C = 25^{circ}C$時可達12.6A,在$TC = 100^{circ}C$時為8.0A,脈沖漏極電流($I{DM}$)更是高達50.4A。
  • 導通電阻:在$V{GS}=10V$時,$R{DS(on)}$最大為750mΩ,典型值為0.58 - 0.75Ω ,這使得它在導通狀態(tài)下的功率損耗較低。
  • 柵極電荷:低柵極電荷(典型值68nC)和低$C_{rss}$(典型值30pF)有助于實現(xiàn)快速的開關速度,減少開關損耗。
  • 雪崩特性:經(jīng)過100%雪崩測試,具有良好的雪崩能量強度,$E{AS}$(單脈沖雪崩能量)為1100mJ,$E{AR}$(重復雪崩能量)為30mJ。

熱特性

  • 熱阻:結到殼的熱阻$R{JC}$最大為0.42°C/W,殼到散熱器的熱阻$R{CS}$典型值為0.24°C/W,結到環(huán)境的熱阻$R_{JA}$最大為40°C/W。這些熱阻參數(shù)對于評估器件在不同散熱條件下的工作溫度至關重要。

絕對最大額定值

在使用該MOSFET時,必須嚴格遵守絕對最大額定值,以避免器件損壞。以下是一些關鍵的絕對最大額定值參數(shù): 符號 參數(shù) 單位
$V_{DSS}$ 漏源電壓 800 V
$I_D$ 漏極電流(連續(xù),$T_C = 25^{circ}C$) 12.6 A
$I_D$ 漏極電流(連續(xù),$T_C = 100^{circ}C$) 8.0 A
$I_{DM}$ 漏極電流(脈沖) 50.4 A
$V_{GSS}$ 柵源電壓 ±30 V
$E_{AS}$ 單脈沖雪崩能量 1100 mJ
$I_{AR}$ 雪崩電流 12.6 A
$E_{AR}$ 重復雪崩能量 30 mJ
$dv/dt$ 峰值二極管恢復$dv/dt$ 4.0 V/ns
$P_D$ 功率耗散($T_C = 25^{circ}C$) 300 W
$P_D$ 25°C以上的降額系數(shù) 2.38 W/°C
$TJ, T{STG}$ 工作和存儲溫度范圍 -55 to +150 °C
$T_L$ 焊接時引腳的最大溫度(5秒) 300 °C

典型特性曲線

通過查看文檔中的典型特性曲線,我們可以更直觀地了解該MOSFET在不同條件下的性能表現(xiàn)。

  • 導通區(qū)域特性:展示了不同柵源電壓下,漏極電流與漏源電壓的關系。
  • 轉移特性:體現(xiàn)了在固定漏源電壓下,漏極電流隨柵源電壓的變化情況。
  • 導通電阻變化:反映了導通電阻與漏極電流和柵源電壓的關系,以及隨溫度的變化。
  • 電容特性:包括輸入電容$C{iss}$、輸出電容$C{oss}$和反向傳輸電容$C_{rss}$隨漏源電壓的變化。
  • 柵極電荷特性:顯示了總柵極電荷隨柵源電壓的變化。

測試電路與波形

文檔中還給出了多種測試電路和波形,如柵極電荷測試電路、電阻性開關測試電路、非鉗位電感開關測試電路以及峰值二極管恢復$dv/dt$測試電路等。這些測試電路和波形有助于工程師在實際應用中準確測量和評估MOSFET的性能。

封裝與訂購信息

該器件采用TO - 3P - 3LD封裝,每管包裝數(shù)量為450個。在訂購時,可參考文檔第6頁的詳細訂購和運輸信息。

總結與思考

FQA13N80 - F109 N溝道MOSFET憑借其出色的電氣性能和熱特性,在開關模式電源、PFC和電子燈鎮(zhèn)流器等應用中具有很大的優(yōu)勢。但在實際設計中,工程師需要根據(jù)具體的應用需求,綜合考慮其各項參數(shù),合理選擇散熱方案,確保器件在安全的工作范圍內(nèi)運行。同時,通過分析典型特性曲線和測試電路,能夠更好地優(yōu)化電路設計,提高系統(tǒng)的性能和可靠性。大家在使用這款MOSFET時,有沒有遇到過一些特殊的問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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