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深入剖析 onsemi FQA8N100C N 溝道 MOSFET

lhl545545 ? 2026-03-30 11:10 ? 次閱讀
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深入剖析 onsemi FQA8N100C N 溝道 MOSFET

在電子設(shè)計領(lǐng)域,MOSFET 作為關(guān)鍵的功率器件,在各類電源電路中發(fā)揮著重要作用。本文將深入剖析 onsemi 公司的 FQA8N100C N 溝道 MOSFET,為電子工程師們在實(shí)際設(shè)計中提供參考。

文件下載:FQA8N100C-D.PDF

一、產(chǎn)品概述

FQA8N100C 是 onsemi 采用專有平面條紋 DMOS 技術(shù)生產(chǎn)的 N 溝道增強(qiáng)型功率場效應(yīng)晶體管。這種先進(jìn)技術(shù)旨在最小化導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能,并能在雪崩和換向模式下承受高能量脈沖,非常適合高效開關(guān)模式電源。

二、產(chǎn)品特性

電氣特性

  • 低導(dǎo)通電阻:在 (V{GS}=10V),(I{D}=4A) 時,(R_{DS(on)}) 最大值為 (1.45Omega),典型值為 (1.2Omega),這意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下能有效降低功率損耗。
  • 低柵極電荷:典型值為 53nC,有助于減少開關(guān)過程中的能量損耗,提高開關(guān)速度。
  • 低反向傳輸電容 (C_{rss}):典型值為 16pF,可降低開關(guān)過程中的米勒效應(yīng),進(jìn)一步提升開關(guān)性能。

可靠性特性

  • 100% 雪崩測試:確保器件在雪崩模式下的可靠性,能承受高能量脈沖,提高了產(chǎn)品的穩(wěn)定性和耐用性。
  • 環(huán)保合規(guī):該器件為無鉛、無鹵化物且符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),符合環(huán)保要求。

三、產(chǎn)品參數(shù)

最大額定值

符號 參數(shù) 單位
(V_{DSS}) 漏源電壓 1000 V
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) 8 A
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) 5 A
(I_{DM}) 脈沖漏極電流 32 A
(V_{GSS}) 柵源電壓 ±30 V
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 850 mJ
(I_{AR}) 雪崩電流 8 A
(E_{AR}) 重復(fù)雪崩能量 22.5 mJ
(dv/dt) 峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) 4.0 V/ns
(P_{D}) 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) 225 W
(P_{D}) 25°C 以上降額 1.79 W/°C
(T{J},T{STG}) 工作和存儲溫度范圍 -55 至 +150 °C
(T_{L}) 焊接用最大引腳溫度(距外殼 1/8”,5 秒) 300 °C

熱特性

符號 參數(shù) 單位
(R_{theta JC}) 結(jié)到外殼的熱阻(最大) 0.56 °C/W
(R_{theta CS}) 外殼到散熱器的熱阻(典型) 0.24 °C/W
(R_{theta JA}) 結(jié)到環(huán)境的熱阻(最大) 40 °C/W

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓 (BVDSS):在 (V{GS}=0V),(I{D}=250mu A) 時,最小值為 1000V。
  • 擊穿電壓溫度系數(shù) (Delta BV{DSS}/Delta T{J}):在 (I_{D}=250mu A) 時,典型值為 (1.4V/^{circ}C)。
  • 零柵壓漏極電流 (I_{DSS}):在 (V{DS}=1000V),(V{GS}=0V) 時,最大值為 10μA;在 (V{DS}=800V),(T{C}=125^{circ}C) 時,最大值為 100μA。
  • 柵體泄漏電流 (I{GSSF}) 和 (I{GSSR}):分別在 (V{GS}=30V) 和 (V{GS}=-30V),(V_{DS}=0V) 時,最大值為 ±100nA。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓 (V_{GS(th)}):在 (V{DS}=V{GS}),(I_{D}=250mu A) 時,最小值為 3.0V,最大值為 5.0V。
  • 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}):在 (V{GS}=10V),(I{D}=4A) 時,典型值為 1.2Ω,最大值為 1.45Ω。
  • 正向跨導(dǎo) (g_{FS}):在 (V{DS}=50V),(I{D}=4A) 時,典型值為 8.0S。

動態(tài)特性

  • 輸入電容 (C_{iss}):在 (V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1.0MHz) 時,典型值為 2475pF,最大值為 3220pF。
  • 輸出電容 (C_{oss}):典型值為 195pF,最大值為 255pF。
  • 反向傳輸電容 (C_{rss}):典型值為 16pF,最大值為 24pF。

開關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時間 (t_{d(on)}):在 (V{DD}=500V),(I{D}=8A),(R_{G}=25Omega) 時,典型值為 50ns,最大值為 110ns。
  • 導(dǎo)通上升時間 (t_{r}):典型值為 95ns,最大值為 200ns。
  • 關(guān)斷延遲時間 (t_{d(off)}):典型值為 122ns,最大值為 254ns。
  • 關(guān)斷下降時間 (t_{f}):典型值為 80ns,最大值為 170ns。
  • 總柵極電荷 (Q_{g}):在 (V{DS}=800V),(I{D}=8A),(V_{GS}=10V) 時,典型值為 53nC,最大值為 70nC。
  • 柵源電荷 (Q_{gs}):典型值為 13nC。
  • 柵漏電荷 (Q_{gd}):典型值為 23nC。

漏源二極管特性和最大額定值

  • 最大連續(xù)漏源二極管正向電流 (I_{S}):8A。
  • 最大脈沖漏源二極管正向電流 (I_{SM}):32A。
  • 漏源二極管正向電壓 (V_{SD}):在 (V{GS}=0V),(I{S}=8A) 時,典型值為 1.4V。
  • 反向恢復(fù)時間 (t_{rr}):在 (V{GS}=0V),(I{S}=8A),(dI_{F}/dt = 100A/mu s) 時,為 620ns。
  • 反向恢復(fù)電荷 (Q_{rr}):5.2μC。

四、典型特性曲線

文檔中給出了多個典型特性曲線,這些曲線直觀地展示了器件在不同條件下的性能表現(xiàn)。例如,導(dǎo)通區(qū)域特性曲線展示了不同柵源電壓下漏極電流與漏源電壓的關(guān)系;轉(zhuǎn)移特性曲線則反映了漏極電流與柵源電壓的關(guān)系。通過這些曲線,工程師可以更準(zhǔn)確地了解器件的性能,為電路設(shè)計提供參考。

五、封裝與訂購信息

FQA8N100C 采用 TO - 3P - 3LD(無鉛)封裝,每管裝 450 個。關(guān)于卷帶包裝規(guī)格的詳細(xì)信息,可參考 BRD8011/D 手冊。

六、總結(jié)

FQA8N100C N 溝道 MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、低反向傳輸電容等特性,以及良好的可靠性和環(huán)保合規(guī)性,在高效開關(guān)模式電源等應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢。電子工程師在設(shè)計相關(guān)電路時,可以根據(jù)其詳細(xì)的參數(shù)和特性曲線,合理選擇和使用該器件,以實(shí)現(xiàn)最佳的電路性能。大家在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過類似 MOSFET 的選型難題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。

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