深入解析 onsemi RFD16N05LSM N 溝道邏輯電平功率 MOSFET
在電子設(shè)計領(lǐng)域,功率 MOSFET 是至關(guān)重要的元件,廣泛應(yīng)用于各種電路中。今天我們來詳細了解 onsemi 公司的 RFD16N05LSM N 溝道邏輯電平功率 MOSFET,探討其特性、參數(shù)以及典型應(yīng)用。
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產(chǎn)品概述
RFD16N05LSM 采用 MegaFET 工藝制造,該工藝利用接近 LSI 集成電路的特征尺寸,實現(xiàn)了硅的最佳利用,從而帶來出色的性能。它專為邏輯電平(5V)驅(qū)動源設(shè)計,適用于可編程控制器、開關(guān)穩(wěn)壓器、開關(guān)轉(zhuǎn)換器、電機繼電器驅(qū)動器以及雙極晶體管的發(fā)射極開關(guān)等應(yīng)用。通過特殊的柵極氧化物設(shè)計,它能在 3V 至 5V 的柵極偏置下提供全額定電導(dǎo),可直接從邏輯電路電源電壓實現(xiàn)真正的開關(guān)功率控制。
產(chǎn)品特性
電氣性能
- 高電流與電壓處理能力:能夠處理 16A 的連續(xù)漏極電流,耐壓達到 50V,可滿足多種高功率應(yīng)用需求。
- 低導(dǎo)通電阻:$r_{DS(ON)}$ 僅為 0.047Ω($ID = 16A$,$V{GS} = 5V$),有效降低了導(dǎo)通損耗,提高了電路效率。
- 快速開關(guān)速度:納秒級的開關(guān)速度,如開啟時間 $t_{(ON)}$ 僅為 60ns,使它能夠快速響應(yīng)信號變化,適用于高頻開關(guān)應(yīng)用。
- 高輸入阻抗:作為多數(shù)載流子器件,具有高輸入阻抗,減少了對驅(qū)動電路的負載要求。
設(shè)計優(yōu)勢
- 優(yōu)化的 5V 柵極驅(qū)動設(shè)計:專為 5V 柵極驅(qū)動優(yōu)化,可直接由 CMOS、NMOS、TTL 電路驅(qū)動,簡化了電路設(shè)計。
- 線性傳輸特性:具有線性傳輸特性,便于電路的設(shè)計和控制。
安全工作區(qū)
- UIS SOA 額定曲線(單脈沖):提供了單脈沖雪崩能量的安全工作區(qū),確保在感性負載應(yīng)用中可靠工作。
- SOA 受功率耗散限制:安全工作區(qū)受功率耗散限制,在設(shè)計時需要考慮散熱問題,以保證器件在安全范圍內(nèi)工作。
關(guān)鍵參數(shù)
最大額定值
| 參數(shù) | 符號 | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | $V_{DS}$ | 50 | V |
| 連續(xù)漏極電流 | $I_{DM}$ | - | A |
| 柵源電壓 | $V_{GS}$ | ±10 | V |
| 最大功耗 | - | 60 | W |
| 工作和存儲溫度 | - | -55 至 150 | °C |
| 引腳溫度(距外殼 0.063 英寸,10s) | $T_L$ | 260 | - |
電氣規(guī)格($T_c = 25°C$,除非另有說明)
| 參數(shù) | 符號 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 漏源擊穿電壓 | $BV_{DSS}$ | $ID = 250 mA$,$V{GS} = 0V$ | 50 | - | - | V |
| 柵極閾值電壓 | $V_{GS(TH)}$ | $V{GS} = V{DS}$,$I = 250 μA$ | 1 | - | 2 | V |
| 零柵壓漏極電流 | $I_{DSS}$ | $V{DS} = 40 V$,$V{GS} = 0V$ | - | - | 1 | μA |
| $T_c = 150°C$ | - | - | 50 | μA | ||
| 柵源泄漏電流 | $I_{GSS}$ | $V{GS} = 10V$,$V{DS} = 0V$ | - | - | 100 | nA |
| 漏源導(dǎo)通電阻 | $r_{DS(ON)}$ | $ID = 16A$,$V{GS} = 5V$ | - | - | 0.047 | Ω |
| $ID = 16 A$,$V{GS} = 4V$ | - | - | 0.056 | Ω | ||
| 開啟時間 | $t_{(ON)}$ | $V_{DD} = 25 V$,$ID = 8 A$,$V{GS} = 5V$,$R_{GS} = 12.5$ | - | - | 60 | ns |
| 開啟延遲時間 | $t_{d(ON)}$ | - | 14 | - | - | ns |
| 上升時間 | $t_r$ | - | 30 | - | - | ns |
| 關(guān)斷延遲時間 | $t_{d(OFF)}$ | - | 42 | - | - | ns |
| 下降時間 | $t_f$ | - | 14 | - | - | ns |
| 關(guān)斷時間 | $t_{(OFF)}$ | - | - | - | - | ns |
| 總柵極電荷 | $Q_{g(TOT)}$ | $V{GS} = 0V$ 至 10V,$V{DD} = 40 V$ | - | - | 80 | nC |
| 5V 時的柵極電荷 | $Q_{g(5)}$ | $V_{GS} = 0V$ 至 5V,$I_D = 16A$,$R = 2.5$ | - | - | 45 | nC |
| 閾值柵極電荷 | $Q_{g(TH)}$ | $V_{GS} = 0V$ 至 1V | - | - | 3 | nC |
| 結(jié)到外殼的熱阻 | $R_{θJC}$ | - | - | - | 2.083 | °C/W |
| 結(jié)到環(huán)境的熱阻 | $R_{θJA}$ | - | - | - | 100 | °C/W |
典型性能曲線
文檔中提供了一系列典型性能曲線,直觀地展示了該 MOSFET 在不同條件下的性能表現(xiàn)。例如,歸一化功率耗散與外殼溫度的關(guān)系曲線(Figure 1),可幫助工程師了解在不同溫度下器件的功率耗散情況,從而合理設(shè)計散熱系統(tǒng);最大連續(xù)漏極電流與外殼溫度的關(guān)系曲線(Figure 2),能讓工程師根據(jù)實際工作溫度確定器件的最大連續(xù)電流承載能力。
測試電路與波形
文檔中還給出了各種測試電路和波形,如未鉗位能量測試電路(Figure 13)、開關(guān)時間測試電路(Figure 15)、柵極電荷測試電路(Figure 17)等,以及相應(yīng)的波形圖。這些測試電路和波形對于工程師驗證器件性能、進行電路設(shè)計和調(diào)試具有重要的參考價值。
PSPICE 電氣模型
文檔提供了 RFD16N05LSM 的 PSPICE 電氣模型,方便工程師在電路仿真中使用。通過該模型,工程師可以在設(shè)計階段對電路進行仿真分析,預(yù)測器件在不同條件下的性能,優(yōu)化電路設(shè)計。
機械封裝與尺寸
RFD16N05LSM 采用 DPAK3 封裝,尺寸為 6.10x6.54x2.29,引腳間距為 4.57P。文檔詳細給出了封裝的尺寸信息和引腳布局,為 PCB 設(shè)計提供了準確的參考。
應(yīng)用建議
在使用 RFD16N05LSM 時,需要注意以下幾點:
- 散熱設(shè)計:由于器件的最大功耗為 60W,且安全工作區(qū)受功率耗散限制,因此需要合理設(shè)計散熱系統(tǒng),確保器件在安全溫度范圍內(nèi)工作。
- 驅(qū)動電路設(shè)計:雖然該器件可直接由 CMOS、NMOS、TTL 電路驅(qū)動,但在設(shè)計驅(qū)動電路時,仍需考慮驅(qū)動能力和信號的上升、下降時間,以保證器件的正常開關(guān)。
- 感性負載應(yīng)用:在感性負載應(yīng)用中,需要考慮器件的 UIS SOA 額定曲線,確保器件在單脈沖雪崩能量下可靠工作。
總之,onsemi 的 RFD16N05LSM N 溝道邏輯電平功率 MOSFET 具有出色的性能和廣泛的應(yīng)用前景。通過深入了解其特性、參數(shù)和應(yīng)用建議,工程師可以更好地將其應(yīng)用于各種電路設(shè)計中,提高電路的性能和可靠性。你在使用這款 MOSFET 時遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和見解。
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