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知識(shí)分享-嵌入式系統(tǒng)可靠性模型2026-03-11 16:43
嵌入式系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)及案例解析1.3嵌入式系統(tǒng)可靠性模型嵌入式系統(tǒng)可靠性模型分為兩種：串聯(lián)結(jié)構(gòu)模型和并聯(lián)結(jié)構(gòu)模型。在進(jìn)行嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)，為了保證部分關(guān)鍵環(huán)節(jié)的可靠性，會(huì)采取并聯(lián)備份的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)形式，以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)可靠性的成倍提升，這時(shí)一般會(huì)采取可靠性并聯(lián)結(jié)構(gòu)模型。注意：系統(tǒng)可靠性的串、并聯(lián)模型和系統(tǒng)功能框圖的串、并聯(lián)模型沒有直接的等同關(guān)系。如圖1-8所示，B -
你的EMC瓶頸，不是經(jīng)驗(yàn)不夠，是體系不全2026-03-10 16:41
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深圳4月24-25日《嵌入式系統(tǒng)軟硬件可靠性設(shè)計(jì)》公開課，火熱報(bào)名中！2026-03-09 17:50
課程名稱：《嵌入式系統(tǒng)軟硬件可靠性設(shè)計(jì)》講師：武老師時(shí)間地點(diǎn)：深圳4月24-25日主辦單位：賽盛技術(shù)課程背景隨著嵌入式系統(tǒng)在工業(yè)控制、汽車電子、航空航天、醫(yī)療設(shè)備及消費(fèi)電子等關(guān)鍵領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，其可靠性已成為產(chǎn)品核心競爭力的決定性因素。然而，在實(shí)際研發(fā)中，工程師們常常面臨諸多挑戰(zhàn)：硬件上，因環(huán)境應(yīng)力、器件選型不當(dāng)、電路設(shè)計(jì)缺陷及電磁兼容等問題導(dǎo)致的系統(tǒng)失效屢 -
【案例5.1】存儲(chǔ)器選型的考慮要點(diǎn)2026-03-04 17:20
【案例5.1】存儲(chǔ)器選型的考慮要點(diǎn)某設(shè)計(jì)，用戶接口數(shù)據(jù)傳輸速率為10Gbps，每8個(gè)字節(jié)的數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)一次查表需求，數(shù)據(jù)表存儲(chǔ)在由DDR4SDRAM組成的存儲(chǔ)器中。工程師需綜合考慮各方面要求，進(jìn)行存儲(chǔ)器的選型。以下是選型時(shí)最關(guān)鍵的兩個(gè)因素：（1）產(chǎn)品對(duì)存儲(chǔ)器容量的要求。一般由系統(tǒng)設(shè)計(jì)部門和軟件設(shè)計(jì)部門，根據(jù)產(chǎn)品需求，共同確定對(duì)存儲(chǔ)器容量的要求。本案例中的數(shù)據(jù)表將 -
【EMC技術(shù)案例】網(wǎng)關(guān)產(chǎn)品12VDC CE電壓法等級(jí)5整改案例2026-03-03 17:34
【EMC技術(shù)案例】網(wǎng)關(guān)產(chǎn)品12VDC CE電壓法等級(jí)5整改案例 -
數(shù)學(xué)工程計(jì)算+失效分析，雙輪驅(qū)動(dòng)電路可靠性2026-02-27 17:44
用數(shù)學(xué)計(jì)算驅(qū)動(dòng)可靠設(shè)計(jì)在電子產(chǎn)品研發(fā)過程中，你是否經(jīng)常遇到以下問題：產(chǎn)品在測試中偶發(fā)失效，卻找不到根本原因？器件選型憑經(jīng)驗(yàn)、靠感覺，缺乏量化依據(jù)？電路設(shè)計(jì)完成后，總是要經(jīng)歷多輪“試錯(cuò)—改板—測試”的循環(huán)？面對(duì)復(fù)雜電路，不知道如何用數(shù)學(xué)工具進(jìn)行精準(zhǔn)計(jì)算與風(fēng)險(xiǎn)預(yù)估？為什么你需要這門課？武老師20年航天及工業(yè)產(chǎn)品設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合數(shù)學(xué)分析、器件物理、失效機(jī)理，構(gòu)建了一 -
少走三年彎路！頂尖硬件工程師分享的“實(shí)戰(zhàn)錦囊”！2026-02-26 15:54
工程師實(shí)戰(zhàn)能力提升專家——賽盛技術(shù)賽盛技術(shù)公司專注于提供高質(zhì)量的工程技術(shù)培訓(xùn)服務(wù)，以線下公開課、企業(yè)內(nèi)訓(xùn)和線上網(wǎng)課等多元化形式，滿足不同工程師的學(xué)習(xí)需求。課程內(nèi)容廣泛覆蓋EMC、硬件設(shè)計(jì)/故障排查/測試、信號(hào)完整性、可靠性、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、項(xiàng)目管理等多個(gè)關(guān)鍵領(lǐng)域。通過互動(dòng)式、實(shí)戰(zhàn)導(dǎo)向的學(xué)習(xí)模式，我們賦能工程師提升實(shí)踐能力，高效解決實(shí)際工作中的技術(shù)難題，從而顯著提升 -
【案例1.8】低溫下電子設(shè)備啟動(dòng)異常2026-02-10 13:54
【案例1.8】低溫下電子設(shè)備啟動(dòng)異常某產(chǎn)品在低溫條件下，底層驅(qū)動(dòng)軟件在初始化電機(jī)控制電路過程中，偶爾遇到死機(jī)現(xiàn)象?！居懻摗客ㄟ^監(jiān)測低溫下元器件工作電壓的波動(dòng)，確定故障原因是控制電路上有一顆芯片采用了液態(tài)電解質(zhì)鋁電容作為濾波電容。電機(jī)啟動(dòng)中會(huì)產(chǎn)生很大的負(fù)載電流波動(dòng)△I，而鋁電解電容的液態(tài)電解質(zhì)在低溫下狀態(tài)改變，導(dǎo)致電容的ESR（EquivalentSeries -
賦能研發(fā)，驅(qū)動(dòng)未來 | 賽盛技術(shù)2026年3月線下公開課全面啟航2026-02-09 17:11
在技術(shù)飛速迭代、產(chǎn)業(yè)不斷升級(jí)的浪潮中，持續(xù)學(xué)習(xí)與能力進(jìn)化已成為每一位研發(fā)工程師與管理者保持競爭力的核心關(guān)鍵。2026年3月，賽盛技術(shù)打造系列線下精品課程，再度啟程！深入研發(fā)一線的真實(shí)場景，聚焦三大核心領(lǐng)域——研發(fā)設(shè)計(jì)、研發(fā)管理、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，特邀業(yè)內(nèi)實(shí)戰(zhàn)派專家講師，旨在為您系統(tǒng)破解技術(shù)難題、提升管理效能、夯實(shí)質(zhì)量根基。研發(fā)設(shè)計(jì)類硬件電路可靠性設(shè)計(jì)：深入元器件、降 -
2026年度課程《壽命試驗(yàn)、高加速壽命試驗(yàn)及可靠性數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析實(shí)操》公開課，助您提升專業(yè)能力！2026-02-08 09:02
課程名稱：《壽命試驗(yàn)、高加速壽命試驗(yàn)及可靠性數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析實(shí)操》（可到企業(yè)內(nèi)部培訓(xùn)）講師：張老師時(shí)間地點(diǎn)：北京10月30-31日主辦單位：賽盛技術(shù)課程背景加速壽命試驗(yàn)和高加速壽命試驗(yàn)是提成產(chǎn)品可靠性的重要手段，壽命數(shù)據(jù)分析技術(shù)是質(zhì)量可靠性人員、檢驗(yàn)人員和設(shè)計(jì)師必備的技能，是開展可靠性工作必須的手段，為滿足一線技術(shù)人員對(duì)數(shù)據(jù)處理分析技術(shù)和試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)的需求，特開