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具有八進制總線收發(fā)器和寄存器的?? ABT8646和掃描測試設備是德州儀器SCOPE的成員？可測試性集成電路系列。該系列器件支持IEEE標準1149.1-1990邊界掃描，便于測試復雜的電路板組件。掃描訪問測試電路是通過4線測試訪問端口（TAP）接口完成的。

在正常模式下，這些器件在功能上等同于?? F646和?? ABT646八路總線收發(fā)器并注冊。測試電路可以由TAP激活，以獲取出現在器件引腳上的數據的快照樣本，或者對邊界測試單元執(zhí)行自測試。在正常模式下激活TAP不會影響SCOPE的功能操作？八進制總線收發(fā)器和寄存器。

收發(fā)器功能由輸出使能（OE）\和方向（DIR）輸入控制。當OE \為低電平時，收發(fā)器處于活動狀態(tài)，當DIR為高電平時工作在A到B方向，或者當DIR為低電平時工作在B到A方向。當OE \為高電平時，A和B輸出都處于高阻態(tài)，有效隔離兩個總線。

數據流由時鐘（CLKAB和CLKBA）控制并選擇（SAB和SBA）投入。 A總線上的數據在CLKAB的低到高轉換時被輸入相關的寄存器。當SAB為低時，選擇實時A數據以呈現給B總線（透明模式）。當SAB為高時，選擇存儲的A數據以呈現給B總線（注冊模式）。 CLKBA和SBA輸入的功能分別反映CLKAB和SAB的功能。圖1顯示了可以用?? ABT8646執(zhí)行的四種基本總線管理功能。

在測試模式下，SCOPE的正常運行？禁止總線收發(fā)器和寄存器，并且使測試電路能夠觀察和控制器件的I /O邊界。啟用后，測試電路執(zhí)行邊界掃描測試操作，如IEEE標準1149.1-1990所述。

四個專用測試引腳控制測試電路的操作：測試數據輸入（TDI），測試數據輸出（TDO），測試模式選擇（TMS）和測試時鐘（TCK）。另外，測試電路執(zhí)行其他測試功能，例如數據輸入上的并行簽名分析（PSA）和來自數據輸出的偽隨機模式生成（PRPG）。所有測試和掃描操作都與TAP接口同步。

SN54ABT8646的特點是可在55°C至125°C的整個軍用溫度范圍內工作。 SN74ABT8646的工作溫度范圍為-40°C至85°C。