深入解析 onsemi FQD6N40C N 溝道 MOSFET
在電子工程師的日常設(shè)計中,MOSFET 是不可或缺的關(guān)鍵元件。今天,我們將深入探討 onsemi 公司的 FQD6N40C N 溝道 MOSFET,這款器件在開關(guān)電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用中表現(xiàn)出色。
文件下載:FQD6N40C-D.PDF
產(chǎn)品概述
FQD6N40C 是一款 N 溝道增強型功率 MOSFET,采用了 onsemi 專有的平面條紋和 DMOS 技術(shù)。這種先進(jìn)的 MOSFET 技術(shù)經(jīng)過精心設(shè)計,旨在降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強度。
關(guān)鍵特性
電氣性能
- 電流與電壓:它能夠承受 4.5A 的連續(xù)漏極電流((T{C}=25^{circ}C)),漏源電壓((V{DSS}))可達(dá) 400V。在脈沖情況下,漏極電流((I_{DM}))最高可達(dá) 18A。
- 導(dǎo)通電阻:在 (V{GS}=10V),(I{D}=2.25A) 的條件下,導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}) 最大為 1.0mΩ,典型值為 0.83mΩ,這意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下的功率損耗較低。
- 柵極電荷:柵極總電荷((Q_{g}))典型值為 16nC,較低的柵極電荷有助于減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。
- 電容特性:輸入電容((C{iss}))、輸出電容((C{oss}))和反向傳輸電容((C{rss}))都相對較低,其中 (C{rss}) 典型值為 15pF,這對于高頻應(yīng)用非常有利。
雪崩特性
該器件經(jīng)過 100% 雪崩測試,單脈沖雪崩能量((E{AS}))可達(dá) 270mJ,重復(fù)雪崩能量((E{AR}))為 4.8mJ,這表明它在雪崩情況下具有較高的可靠性。
絕對最大額定值
| 參數(shù) | 符號 | 額定值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | (V_{DSS}) | 400 | V |
| 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | 4.5 | A |
| 連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) | (I_{D}) | 2.7 | A |
| 脈沖漏極電流 | (I_{DM}) | 18 | A |
| 柵源電壓 | (V_{GS}) | (pm30) | V |
| 單脈沖雪崩能量 | (E_{AS}) | 270 | mJ |
| 雪崩電流 | (I_{AR}) | 4.5 | A |
| 重復(fù)雪崩能量 | (E_{AR}) | 4.8 | mJ |
| 二極管恢復(fù) dv/dt 峰值 | (dv/dt) | 4.5 | V/ns |
| 功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) | (P_{D}) | 2.5 | W |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | (P_{D}) | 48 | W |
| 工作和存儲溫度范圍 | (T{J},T{STG}) | -55 至 +150 | (^{circ}C) |
| 焊接時最大引腳溫度(距外殼 1/8”,5 秒) | (T_{L}) | 300 | (^{circ}C) |
需要注意的是,超過這些最大額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。
熱特性
- 結(jié)到外殼熱阻:最大為 2.6 (^{circ}C/W)。
- 結(jié)到環(huán)境熱阻:在不同的散熱條件下有所不同,例如最小 2oz 銅焊盤時最大為 110 (^{circ}C/W),1 (in^{2}) 的 2oz 銅焊盤時最大為 50 (^{circ}C/W)。良好的熱特性有助于保證器件在工作時的穩(wěn)定性。
典型特性曲線
導(dǎo)通區(qū)域特性
從導(dǎo)通區(qū)域特性曲線(圖 1)可以看出,在不同的柵源電壓((V{GS}))下,漏極電流((I{D}))隨漏源電壓((V_{DS}))的變化情況。這對于理解器件在不同工作條件下的導(dǎo)通性能非常有幫助。
傳輸特性
傳輸特性曲線(圖 2)展示了在不同溫度下,漏極電流((I{D}))與柵源電壓((V{GS}))的關(guān)系。可以看到,溫度對傳輸特性有一定的影響。
導(dǎo)通電阻變化特性
導(dǎo)通電阻((R{DS(on)}))隨漏極電流((I{D}))和柵源電壓((V_{GS}))的變化曲線(圖 3)表明,在不同的工作條件下,導(dǎo)通電阻會有所變化。工程師在設(shè)計時需要根據(jù)實際情況選擇合適的工作點。
其他特性曲線
還有電容特性曲線(圖 5)、柵極電荷特性曲線(圖 6)、擊穿電壓隨溫度變化曲線(圖 7)、導(dǎo)通電阻隨溫度變化曲線(圖 8)、最大安全工作區(qū)曲線(圖 9)、最大漏極電流與外殼溫度關(guān)系曲線(圖 10)以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線(圖 11)等,這些曲線為工程師提供了全面的器件性能信息。
測試電路與波形
文檔中還給出了柵極電荷測試電路與波形(圖 12)、電阻性開關(guān)測試電路與波形(圖 13)、無鉗位電感開關(guān)測試電路與波形(圖 14)以及峰值二極管恢復(fù) dv/dt 測試電路與波形(圖 15)。這些測試電路和波形有助于工程師更好地理解器件在實際應(yīng)用中的工作情況,進(jìn)行準(zhǔn)確的設(shè)計和調(diào)試。
封裝與訂購信息
FQD6N40C 采用 DPAK3(TO - 252 3 LD)封裝,器件標(biāo)記為 FQD6N40C。訂購信息可參考數(shù)據(jù)手冊第 6 頁的詳細(xì)內(nèi)容,該器件以 2500 個/卷帶和卷軸的形式發(fā)貨,卷軸尺寸為 330mm,膠帶寬度為 16mm。
總結(jié)
onsemi 的 FQD6N40C N 溝道 MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強度,適用于多種應(yīng)用場景。電子工程師在設(shè)計開關(guān)電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)和電子燈鎮(zhèn)流器等電路時,可以充分利用其特性,提高電路的性能和可靠性。同時,通過對其典型特性曲線和測試電路的研究,能夠更好地進(jìn)行電路設(shè)計和調(diào)試。你在使用類似 MOSFET 器件時,有沒有遇到過什么特別的問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗。
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