Onsemi FQP17N40 N溝道MOSFET:特性與應(yīng)用解析
作為一名電子工程師,在電源設(shè)計(jì)、功率轉(zhuǎn)換等領(lǐng)域,MOSFET是我們常用的功率器件。今天就來深入解析Onsemi的FQP17N40這款N溝道增強(qiáng)型功率MOSFET。
文件下載:FQP17N40-D.pdf
1. 產(chǎn)品概述
FQP17N40采用了Onsemi專有的平面條紋和DMOS技術(shù)。這種先進(jìn)的MOSFET技術(shù)經(jīng)過特別設(shè)計(jì),能夠有效降低導(dǎo)通電阻,提供出色的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。它適用于開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)以及電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用場景。
2. 產(chǎn)品特性
2.1 電氣參數(shù)
- 電流與電壓:可承受16A的連續(xù)漏極電流((TC = 25^{circ}C)),400V的漏源電壓((V{DSS}))。在脈沖情況下,漏極電流脈沖((I_{DM}))可達(dá)64A。
- 導(dǎo)通電阻:在(V{GS}=10V)、(I{D}=8.0A)時(shí),(R_{DS(on)})最大為270mΩ,典型值為0.21Ω,低導(dǎo)通電阻能減少功率損耗。
- 柵極電荷:柵極總電荷((Q_g))典型值為45nC,較低的柵極電荷有助于實(shí)現(xiàn)快速開關(guān),降低開關(guān)損耗。
- 電容特性:反向傳輸電容((C{rss}))典型值為30pF,輸入電容((C{iss}))在(V{DS}=25V)、(V{GS}=0V)、(f = 1.0MHz)時(shí),典型值為1800 - 2300pF,輸出電容((C_{oss}))典型值為270 - 350pF。
2.2 其他特性
- 雪崩測試:經(jīng)過100%雪崩測試,單脈沖雪崩能量((E{AS}))可達(dá)1000mJ,重復(fù)雪崩能量((E{AR}))為17mJ,具有良好的雪崩耐量。
- 環(huán)保特性:該器件為無鉛產(chǎn)品,符合環(huán)保要求。
3. 絕對最大額定值
| 了解器件的絕對最大額定值對于正確使用和設(shè)計(jì)電路至關(guān)重要。以下是FQP17N40的主要絕對最大額定值: | 參數(shù) | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓((V_{DSS})) | 400 | V | |
| 連續(xù)漏極電流((T_C = 25^{circ}C)) | 16 | A | |
| 連續(xù)漏極電流((T_C = 100^{circ}C)) | 10.1 | A | |
| 脈沖漏極電流((I_{DM})) | 64 | A | |
| 柵源電壓((V_{GS})) | ±30 | V | |
| 單脈沖雪崩能量((E_{AS})) | 1000 | mJ | |
| 雪崩電流((I_{AR})) | 16 | A | |
| 重復(fù)雪崩能量((E_{AR})) | 17 | mJ | |
| 二極管恢復(fù)dv/dt峰值 | 4.5 | V/ns | |
| 功率耗散((T_C = 25^{circ}C)) | 170 | W | |
| 功率耗散降額(高于(25^{circ}C)) | 1.35 | W/°C | |
| 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 | (-55) 至 (+150) | °C | |
| 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼1/8“,5秒) | 300 | °C |
需要注意的是,超過這些最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。
4. 熱特性
熱特性對于功率器件的性能和可靠性至關(guān)重要。FQP17N40的熱阻參數(shù)如下:
- 結(jié)到外殼的熱阻((R_{theta JC}))最大為0.74°C/W。
- 結(jié)到環(huán)境的熱阻((R_{theta JA}))最大為62.5°C/W。
在設(shè)計(jì)散熱方案時(shí),需要根據(jù)實(shí)際的功率耗散和工作環(huán)境溫度,合理選擇散熱片等散熱措施,以確保器件工作在安全的溫度范圍內(nèi)。
5. 電氣特性
5.1 關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓((BV_{DSS})):在(V{GS}=0V)、(I{D}=250mu A)時(shí),有相應(yīng)的擊穿電壓值。
- 擊穿電壓溫度系數(shù)((Delta T_J)):在(I_{D}=250mu A)、參考溫度為(25^{circ}C)時(shí),為0.44V/°C。
- 零柵壓漏極電流((I_{DSS})):在(V{DS}=400V)、(V{GS}=0V)時(shí),典型值為1μA;在(V_{DS}=320V)、(T_C = 125^{circ}C)時(shí),典型值為10μA。
- 柵體泄漏電流:正向柵體泄漏電流((I{GSSF}))在(V{GS}=30V)、(V{DS}=0V)時(shí),典型值為100nA;反向柵體泄漏電流((I{GSSR}))在(V{GS}=-30V)、(V{DS}=0V)時(shí),典型值為 - 100nA。
5.2 導(dǎo)通特性
- 柵源閾值電壓((V_{GS(th)})):在(V{DS}=V{GS})、(I_{D}=250mu A)時(shí),范圍為3.0 - 5.0V。
- 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻((R_{DS(on)})):在(V{GS}=10V)、(I{D}=8.0A)時(shí),典型值為0.21Ω,最大值為0.27Ω。
- 正向跨導(dǎo)((g_{fs})):在(V{DS}=50V)、(I{D}=8.0A)時(shí),典型值為13。
5.3 動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容((C_{iss})):在(V{DS}=25V)、(V{GS}=0V)、(f = 1.0MHz)時(shí),范圍為1800 - 2300pF。
- 輸出電容((C_{oss})):典型值為270 - 350pF。
- 反向傳輸電容((C_{rss})):典型值為30 - 40pF。
5.4 開關(guān)特性
- 導(dǎo)通延遲時(shí)間((t_{d(on)})):在(RG = 25Ω)、(V{DD}=200V)、(I_{D}=17.2A)時(shí),范圍為40 - 90ns。
- 導(dǎo)通上升時(shí)間((t_r)):范圍為185 - 380ns。
- 關(guān)斷延遲時(shí)間((t_{d(off)})):范圍為90 - 190ns。
- 關(guān)斷下降時(shí)間((t_f)):范圍為105 - 220ns。
- 柵極總電荷((Q_g)):在(V{DS}=320V)、(I{D}=17.2A)、(V_{GS}=10V)時(shí),范圍為45 - 60nC。
- 柵源電荷((Q_{gs})):為11.4nC。
- 柵漏電荷((Q_{gd})):為21.7nC。
5.5 漏源二極管特性
- 最大脈沖漏源二極管正向電流((I{S}))為16A,脈沖峰值電流((I{SM}))為64A,正向電壓((V_{SD}))為1.5V。
6. 典型特性曲線
文檔中提供了多個(gè)典型特性曲線,這些曲線直觀地展示了器件在不同條件下的性能表現(xiàn),例如:
- 導(dǎo)通區(qū)域特性曲線:展示了不同柵源電壓下,漏極電流與漏源電壓的關(guān)系。
- 傳輸特性曲線:體現(xiàn)了在不同溫度下,漏極電流與柵源電壓的關(guān)系。
- 導(dǎo)通電阻變化曲線:顯示了導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵源電壓的變化情況。
通過分析這些曲線,我們可以更好地了解器件的性能,為電路設(shè)計(jì)提供依據(jù)。
7. 封裝與訂購信息
FQP17N40采用TO - 220 - 3封裝,1000個(gè)/管(無鉛)。對于卷帶包裝規(guī)格,可參考Tape and Reel Packaging Specifications Brochure, BRD8011/D。
8. 總結(jié)
Onsemi的FQP17N40 N溝道MOSFET憑借其低導(dǎo)通電阻、良好的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度等特性,在開關(guān)模式電源、PFC等應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,我們需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,合理選擇器件,并注意其絕對最大額定值和熱特性,以確保電路的性能和可靠性。大家在使用這款器件時(shí),有沒有遇到過什么問題或者有什么獨(dú)特的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)?zāi)兀繗g迎在評論區(qū)分享。
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功率器件
+關(guān)注
關(guān)注
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