深入解析 onsemi FQD6N40C N 溝道 MOSFET
在電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中,MOSFET 是一種極為常見且關(guān)鍵的器件。今天我們要深入探討的是 onsemi 公司的 FQD6N40C N 溝道 MOSFET,它在開關(guān)電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)以及電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用中有著廣泛的應(yīng)用。
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產(chǎn)品概述
FQD6N40C 是一款 N 溝道增強(qiáng)型功率 MOSFET,采用了 onsemi 專有的平面條紋和 DMOS 技術(shù)。這種先進(jìn)的 MOSFET 技術(shù)經(jīng)過特別優(yōu)化,旨在降低導(dǎo)通電阻,同時(shí)提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。
產(chǎn)品特性
電氣性能
- 電流與電壓額定值:它能夠承受 4.5A 的連續(xù)漏極電流((TC = 25^{circ}C) 時(shí)),漏源電壓((V{DSS}))可達(dá) 400V。當(dāng)溫度升高到 (TC = 100^{circ}C) 時(shí),連續(xù)漏極電流降為 2.7A,而脈沖漏極電流((I{DM}))最大可達(dá) 18A。
- 低導(dǎo)通電阻:在 (V{GS}=10V),(I{D}=2.25A) 的條件下,靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻((R_{DS(on)}))最大為 1.0mΩ,典型值為 0.83mΩ,這有助于降低功率損耗。
- 低柵極電荷:典型柵極電荷((Q_g))為 16nC,這使得 MOSFET 的開關(guān)速度更快,減少了開關(guān)損耗。
- 低反向傳輸電容:反向傳輸電容((C_{rss}))典型值為 15pF,有助于提高開關(guān)性能。
雪崩特性
該器件經(jīng)過 100% 雪崩測(cè)試,單脈沖雪崩能量((E{AS}))為 270mJ,雪崩電流((I{AR}))為 4.5A,重復(fù)雪崩能量((E_{AR}))為 4.8mJ,這表明它具有良好的抗雪崩能力,能夠在惡劣的工作條件下保持穩(wěn)定。
絕對(duì)最大額定值
| 在使用 FQD6N40C 時(shí),必須嚴(yán)格遵守其絕對(duì)最大額定值,以確保器件的安全和可靠性。以下是一些重要的額定值: | 參數(shù) | 額定值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓((V_{DSS})) | 400 | V | |
| 連續(xù)漏極電流((T_C = 25^{circ}C)) | 4.5 | A | |
| 連續(xù)漏極電流((T_C = 100^{circ}C)) | 2.7 | A | |
| 脈沖漏極電流((I_{DM})) | 18 | A | |
| 柵源電壓((V_{GS})) | ±30 | V | |
| 單脈沖雪崩能量((E_{AS})) | 270 | mJ | |
| 雪崩電流((I_{AR})) | 4.5 | A | |
| 重復(fù)雪崩能量((E_{AR})) | 4.8 | mJ | |
| 二極管恢復(fù) dv/dt 峰值 | 4.5 | V/ns | |
| 功率耗散((T_A = 25^{circ}C)) | 2.5 | W | |
| 功率耗散((T_C = 25^{circ}C)) | 48 | W | |
| 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 | -55 至 +150 | °C | |
| 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼 1/8”,5 秒) | 300 | °C |
需要注意的是,超過這些額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。
熱特性
熱特性對(duì)于 MOSFET 的性能和可靠性至關(guān)重要。FQD6N40C 的熱阻參數(shù)如下:
- 結(jié)到外殼熱阻((R_{JC})):最大為 2.6°C/W。
- 結(jié)到環(huán)境熱阻((R_{JA})):在最小 2oz 銅焊盤條件下,最大為 110°C/W;在 1in2 2oz 銅焊盤條件下,最大為 50°C/W。
這些熱阻參數(shù)有助于工程師在設(shè)計(jì)散熱系統(tǒng)時(shí)進(jìn)行合理的規(guī)劃,確保 MOSFET 在工作過程中能夠有效地散熱。
電氣特性
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓((B_{VDS})):在 (V{GS}=0V),(I{D}=250mu A) 時(shí),最小值為 400V,其溫度系數(shù)為 -0.54V/°C。
- 零柵壓漏極電流((I_{DSS})):在 (V{DS}=400V),(V{GS}=0V) 時(shí),最大值為 10(mu A);在 (V_{DS}=320V),(T_C = 125^{circ}C) 時(shí),也有相應(yīng)的規(guī)定值。
- 柵體正向和反向泄漏電流((I{GSSF}) 和 (I{GSSR})):分別在 (V{GS}=30V) 和 (V{GS}=-30V),(V_{DS}=0V) 時(shí)進(jìn)行測(cè)試,最大值為 100nA。
導(dǎo)通特性
- 柵極閾值電壓((V_{GS(th)})):在 (V{DS}=V{GS}),(I_{D}=250mu A) 時(shí),范圍為 2.0 - 4.0V。
- 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻((R_{DS(on)})):前面已經(jīng)提到,在 (V{GS}=10V),(I{D}=2.25A) 時(shí),典型值為 0.83mΩ,最大值為 1.0mΩ。
- 正向跨導(dǎo)((g_{FS})):在 (V{DS}=40V),(I{D}=2.25A) 時(shí),為 4.7S。
動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容((C_{iss})):在 (V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1.0MHz) 時(shí),典型值為 480pF,最大值為 625pF。
- 輸出電容((C_{oss})):典型值為 80pF,最大值為 105pF。
- 反向傳輸電容((C_{rss})):典型值為 15pF,最大值為 20pF。
開關(guān)特性
- 導(dǎo)通延遲時(shí)間((t_{d(on)})):在 (V{DD}=200V),(I{D}=6A),(R_{G}=25Omega) 條件下,典型值為 13ns,最大值為 35ns。
- 導(dǎo)通上升時(shí)間((t_{r})):典型值為 65ns,最大值為 140ns。
- 關(guān)斷延遲時(shí)間((t_{d(off)})):典型值為 21ns,最大值為 55ns。
- 關(guān)斷下降時(shí)間((t_{f})):典型值為 38ns,最大值為 85ns。
- 總柵極電荷((Q_{g})):在 (V{DS}=320V),(I{D}=6A),(V_{GS}=10V) 時(shí),典型值為 16nC,最大值為 20nC。
- 柵源電荷((Q_{gs})):為 2.3nC。
- 柵漏電荷((Q_{gd})):為 8.2nC。
漏源二極管特性
- 最大連續(xù)漏源二極管正向電流((I_{S})):為 4.5A。
- 最大脈沖漏源二極管正向電流((I_{SM})):最大為 18A。
- 漏源二極管正向電壓((V_{SD})):在 (V{GS}=0V),(I{S}=4.5A) 時(shí),最大值為 1.4V。
- 反向恢復(fù)時(shí)間((t_{rr})):在 (V{GS}=0V),(I{S}=6A),(dI_{F}/dt = 100A/mu s) 時(shí),為 230ns。
- 反向恢復(fù)電荷((Q_{rr})):為 1.7(mu C)。
典型特性曲線
數(shù)據(jù)手冊(cè)中還提供了一系列典型特性曲線,這些曲線直觀地展示了 FQD6N40C 在不同條件下的性能表現(xiàn),例如導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)以及最大漏極電流隨外殼溫度的變化等。這些曲線對(duì)于工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí)進(jìn)行性能評(píng)估和參數(shù)選擇非常有幫助。
封裝和訂購(gòu)信息
FQD6N40C 采用 DPAK3(TO - 252 3 LD)封裝,標(biāo)記為 FQD6N40C。其卷盤尺寸為 330mm,膠帶寬度為 16mm,每卷 2500 個(gè)。如果需要了解更多關(guān)于卷帶規(guī)格的信息,可以參考 Tape and Reel Packaging Specifications Brochure, BRD8011/D。
總結(jié)
總的來說,onsemi 的 FQD6N40C N 溝道 MOSFET 具有低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、良好的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度等優(yōu)點(diǎn),適用于多種電源和電子設(shè)備應(yīng)用。在設(shè)計(jì)電路時(shí),工程師需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,合理選擇器件參數(shù),并注意其絕對(duì)最大額定值和熱特性,以確保電路的可靠性和性能。你在使用 MOSFET 時(shí)有沒有遇到過一些特殊的問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)。
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