動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-08-25 15:28

  LED燈需要做哪些檢測

  

  在如今的照明領(lǐng)域，LED燈以其節(jié)能、環(huán)保、長壽命等優(yōu)勢被廣泛應(yīng)用。然而，只有經(jīng)過嚴(yán)格檢測的LED燈才能在眾多產(chǎn)品中脫穎而出，為消費(fèi)者帶來真正的優(yōu)質(zhì)體驗(yàn)。LED燈具檢測涉及眾多關(guān)鍵項(xiàng)目，涵蓋力學(xué)測試、電性能參數(shù)、光學(xué)參數(shù)、可靠性試驗(yàn)以及結(jié)構(gòu)與外觀等多個(gè)方面。測試時(shí)的檢驗(yàn)項(xiàng)目1、力學(xué)測試：拉力試驗(yàn)、壓力試驗(yàn)、插拔力試驗(yàn)、耐磨擦試驗(yàn)、模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)。2、電性能參

  led led燈 檢測

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• 發(fā)布了文章 2025-08-25 15:25

  無鹵與鹵素含量測試

  

  無鹵與鹵素含量測試的概念無鹵（HalogenFree，HF）并非簡單地把鹵族元素“清零”，而是指材料或成品中氟（F）、氯（Cl）、溴（Br）、碘（I）四項(xiàng)元素的總和或單項(xiàng)含量被嚴(yán)格限定在行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)以下，從而避免因鹵素釋放導(dǎo)致的腐蝕、毒性及環(huán)境風(fēng)險(xiǎn)。作為專注于化學(xué)分析領(lǐng)域的科研檢測機(jī)構(gòu)，能夠?qū)Σ牧现械柠u素含量進(jìn)行嚴(yán)格的檢測，致力于為客戶提供高質(zhì)量的測試服務(wù)。鹵素

  無鹵素 電子器件

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• 發(fā)布了文章 2025-08-21 14:13

  FIB原理及常見應(yīng)用

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）技術(shù)是一種強(qiáng)大的微納加工和分析工具，它利用高度聚焦的離子束對(duì)材料表面進(jìn)行納米尺度的刻蝕、沉積、成像和成分分析。FIB系統(tǒng)的基礎(chǔ)架構(gòu)聚焦離子束技術(shù)的核心在于將特定元素（如鎵元素）的離子化為帶正電的離子（Ga+），并通過電場加速使其獲得高能量。隨后，借助靜電透鏡系統(tǒng)將這些高速離子束精確聚焦到目標(biāo)位置。這一過程與掃

  fib 材料 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-08-21 14:11

  AEC-Q102之板彎曲試驗(yàn)

  

  伴隨汽車電子技術(shù)的持續(xù)演進(jìn)，光電子元器件在車輛內(nèi)的應(yīng)用愈發(fā)廣泛，其可靠性要求亦不斷提升。AEC-Q102認(rèn)證乃是針對(duì)光電子元器件的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)，其中板彎曲試驗(yàn)（BoardFlexTest）作為關(guān)鍵測試項(xiàng)目之一。AEC-Q102認(rèn)證的背景與意義1.什么是AEC-Q102認(rèn)證？AEC-Q102系汽車電子委員會(huì)（AEC）針對(duì)光電子元器件（諸如光電耦合、LED、激光二極

  AEC 汽車電子 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2025-08-21 14:10

  PCB線路板離子污染度—原理、測試與標(biāo)準(zhǔn)

  

  概念與來源離子污染（ioniccontamination）是指以離子形態(tài)殘留在印制電路板（PCB）及組裝件（PCBA）表面的各類陰、陽離子雜質(zhì)。其來源可分為工藝性、環(huán)境性與人為性三大類：工藝性：助焊劑中的活性劑、電鍍液、波峰焊/回流焊后的殘留物；環(huán)境性：潮濕空氣帶來的鹽霧、硫氧化物、氨氣等；人為性：汗液、皮屑、清潔劑殘留及搬運(yùn)過程中的二次污染。這些離子通常具

  pcb PCB 測試報(bào)告 線路板

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• 發(fā)布了文章 2025-08-21 14:09

  電子元器件為什么會(huì)失效

  

  電子元器件失效是指其在規(guī)定工作條件下，喪失預(yù)期功能或性能參數(shù)超出允許范圍的現(xiàn)象。失效可能發(fā)生于生命周期中的任一階段，不僅影響設(shè)備正常運(yùn)行，還可能引發(fā)系統(tǒng)級(jí)故障。導(dǎo)致失效的因素復(fù)雜多樣，可系統(tǒng)性地歸納為內(nèi)部因素與外部因素兩大類。內(nèi)部原因內(nèi)部失效通常源于元器件在材料、結(jié)構(gòu)或工藝層面的固有缺陷，或在長期工作過程中因內(nèi)部物理化學(xué)變化導(dǎo)致的性能衰退。主要包括以下幾類：

  失效 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2025-08-20 15:47

  潮熱試驗(yàn)+聲掃高可靠用途的篩選(MSL+SAT)

  

  潮熱試驗(yàn)簡介潮熱試驗(yàn)是一種可靠性試驗(yàn)，主要用于評(píng)估電子元器件在濕度和溫度變化條件下的性能。在這個(gè)試驗(yàn)中，元器件會(huì)暴露在特定的濕度和溫度條件下，以模擬真實(shí)環(huán)境中的潛在應(yīng)力。潮熱試驗(yàn)有多種形式，其中一種是恒定潮熱試驗(yàn)，它要求被試樣品在相對(duì)濕度為90%～100%的范圍內(nèi)，在一定時(shí)間內(nèi)使溫度從25℃上升到65℃，并保持3h以上；然后再在相對(duì)濕度為80%～100%的范

  MSL SAT 試驗(yàn)

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• 發(fā)布了文章 2025-08-20 15:44

  車燈設(shè)計(jì)：基于 LED 光源的汽車車燈設(shè)計(jì)與優(yōu)化

  

  隨著科技的不斷進(jìn)步和社會(huì)的發(fā)展，汽車已經(jīng)成為人們生活中必不可少的交通工具。而作為汽車的重要組成部分之一，車燈的設(shè)計(jì)和優(yōu)化對(duì)于駕駛安全和舒適性起著至關(guān)重要的作用。近年來，基于LED光源的汽車車燈逐漸取代傳統(tǒng)的鹵素大燈和氙氣大燈，成為主流趨勢。對(duì)LED光源車燈進(jìn)行設(shè)計(jì)和優(yōu)化將進(jìn)一步推動(dòng)汽車行業(yè)向智能化和可持續(xù)發(fā)展方向邁進(jìn)，為駕駛者提供更好的行車體驗(yàn)和道路安全保障

  led 光源 汽車車燈

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• 發(fā)布了文章 2025-08-20 15:42

  LED車燈因高溫引起的光衰問題

  

  前言隨著歐盟對(duì)鹵素?zé)舻慕茫琇ED大燈技術(shù)迎來了新的發(fā)展機(jī)遇。盡管如此，一些車主仍對(duì)鹵素?zé)羟橛歇?dú)鐘，特別是在多雨的南方地區(qū)，他們認(rèn)為鹵素?zé)舻膹?qiáng)穿透力是其為數(shù)不多的優(yōu)勢之一。然而，這并不意味著LED大燈在穿透力方面就一定遜色于鹵素?zé)簟?shí)際上，選擇合適的色溫可以提高LED大燈的穿透力，避免使用過白的光源。如果車主對(duì)此仍有顧慮，可以考慮安裝變色燈，以適應(yīng)不同的天氣

  led 光源 車燈

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• 發(fā)布了文章 2025-08-19 21:35

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)介紹

  

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)因液態(tài)金屬離子源突破而飛速發(fā)展。1970年初期，多國科學(xué)家研發(fā)多種液態(tài)金屬離子源。1978年，美國加州休斯研究所搭建首臺(tái)Ga+基FIB加工系統(tǒng)，推動(dòng)技術(shù)實(shí)用化。80至90年代，F(xiàn)IB技術(shù)在多領(lǐng)域取得顯著進(jìn)步，商用系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于研究及工業(yè)。如今，F(xiàn)IB已成為微電子行業(yè)關(guān)鍵技術(shù)，提升材料、工藝及器件分析與修補(bǔ)精度。FIB系統(tǒng)的工作原理聚焦

  fib TEM 離子束

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