深入解析FDD5N50NZ - N溝道UniFET? II MOSFET
在電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中,MOSFET是一種常見且關(guān)鍵的器件。今天我們就來深入了解一下FAIRCHILD的FDD5N50NZ - N溝道UniFET? II MOSFET,看看它有哪些特性和應(yīng)用場景。
文件下載:FDD5N50NZ-D.pdf
一、公司背景與產(chǎn)品編號變更
Fairchild已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分Fairchild可訂購的零件編號需要更改,原編號中的下劃線(_)將改為破折號(-)。大家可以訪問ON Semiconductor的網(wǎng)站www.onsemi.com來驗(yàn)證更新后的器件編號。
二、FDD5N50NZ MOSFET概述
基本參數(shù)
FDD5N50NZ是一款N溝道UniFET? II MOSFET,具備500V耐壓、4A電流和1.5Ω導(dǎo)通電阻的特性。在VGS = 10V、ID = 2A的典型條件下,其導(dǎo)通電阻RD(on)為1.38Ω。
特性亮點(diǎn)
- 低柵極電荷:典型值為9nC,有助于降低開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。
- 低Crss:典型值為4pF,可改善開關(guān)性能,減少米勒效應(yīng)的影響。
- 100%雪崩測試:保證了器件在雪崩狀態(tài)下的可靠性。
- 改進(jìn)的dv/dt能力:能更好地應(yīng)對電壓變化率,增強(qiáng)了器件的穩(wěn)定性。
- ESD改進(jìn)能力:內(nèi)部柵 - 源ESD二極管使該MOSFET能夠承受超過2kV的HBM浪涌應(yīng)力。
- RoHS合規(guī):符合環(huán)保要求,滿足綠色電子的設(shè)計(jì)需求。
應(yīng)用領(lǐng)域
適用于多種領(lǐng)域,如LCD/LED/PDP TV、照明以及不間斷電源(UPS)等。
三、詳細(xì)參數(shù)分析
絕對最大額定值
| 參數(shù) | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|
| 漏源電壓VDSS | 500 | V |
| 柵源電壓VGSS | ±25 | V |
| 連續(xù)漏極電流(TC = 25°C) | 4 | A |
| 連續(xù)漏極電流(TC = 100°C) | 2.4 | A |
| 脈沖漏極電流IDM | 16 | A |
| 單脈沖雪崩能量EAS | 304 | mJ |
| 重復(fù)雪崩能量EAR | 6.2 | mJ |
| 峰值二極管恢復(fù)dv/dt | 10 | V/ns |
| 功率耗散PD(TC = 25°C) | 62 | W |
| 25°C以上降額 | 0.5 | W/°C |
| 工作和存儲(chǔ)溫度范圍TJ, TSTG | -55 至 +150 | °C |
| 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼1/8”,5秒) | 300 | °C |
熱特性
熱阻方面,結(jié)到外殼的最大熱阻RθJC為2.0°C/W,結(jié)到環(huán)境的最大熱阻RθJA為90°C/W。這對于散熱設(shè)計(jì)至關(guān)重要,工程師在設(shè)計(jì)時(shí)需要根據(jù)實(shí)際情況考慮散熱措施,以確保器件在合適的溫度范圍內(nèi)工作。
電氣特性
- 關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓BVDSS在ID = 250μA、VGS = 0V、TJ = 25°C時(shí)為500V。
- 擊穿電壓溫度系數(shù)ΔBVDSS/ΔTJ在ID = 250μA、參考25°C時(shí)為0.5V/°C。
- 零柵壓漏極電流IDSS在VDS = 500V、VGS = 0V時(shí)最大為1μA;在VDS = 400V、TC = 125°C時(shí)最大為10μA。
- 柵 - 體泄漏電流IGSS在VGS = ±25V、VDS = 0V時(shí)最大為±10μA。
- 導(dǎo)通特性
- 柵極閾值電壓VGS(th)在VGS = VDS、ID = 250μA時(shí),范圍為3.0 - 5.0V。
- 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻RDS(on)在VGS = 10V、ID = 2A時(shí),典型值為1.38Ω,最大值為1.5Ω。
- 正向跨導(dǎo)gFS在VDS = 20V、ID = 2A時(shí),典型值為3.54S。
- 動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容Ciss在VDS = 25V、VGS = 0V、f = 1MHz時(shí),典型值為330pF,最大值為440pF。
- 輸出電容Coss典型值為50pF,最大值為70pF。
- 反向傳輸電容Crss典型值為4pF,最大值為6pF。
- 10V時(shí)的總柵極電荷Qg(tot)在VDS = 400V、ID = 4A、VGS = 10V時(shí),典型值為9nC,最大值為12nC。
- 柵 - 源柵極電荷Qgs典型值為2nC,柵 - 漏“米勒”電荷Qgd典型值為4nC。
- 開關(guān)特性
- 導(dǎo)通延遲時(shí)間td(on)典型值為12ns,最大值為35ns。
- 導(dǎo)通上升時(shí)間tr典型值為22ns,最大值為55ns。
- 關(guān)斷延遲時(shí)間td(off)典型值為28ns,最大值為65ns。
- 關(guān)斷下降時(shí)間tf典型值為21ns,最大值為50ns。
- 漏源二極管特性
- 最大連續(xù)漏源二極管正向電流為4A,最大脈沖漏源二極管正向電流為16A。
- 漏源二極管正向電壓VSD在VGS = 0V、ISD = 4A時(shí)為1.4V。
- 反向恢復(fù)時(shí)間trr在VGS = 0V、ISD = 4A、dIF/dt = 100A/μs時(shí)典型值為210ns。
- 反向恢復(fù)電荷Qrr典型值為1.1μC。
四、典型性能特性
文檔中給出了多個(gè)典型性能特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、電容特性、轉(zhuǎn)移特性、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨外殼溫度的變化以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線可以幫助工程師更好地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn),從而優(yōu)化設(shè)計(jì)。
五、測試電路與波形
文檔還提供了柵極電荷測試電路及波形、電阻性開關(guān)測試電路及波形、無鉗位電感開關(guān)測試電路及波形以及峰值二極管恢復(fù)dv/dt測試電路及波形。這些測試電路和波形對于工程師驗(yàn)證器件性能、進(jìn)行電路設(shè)計(jì)和調(diào)試具有重要的參考價(jià)值。
六、機(jī)械尺寸與封裝
FDD5N50NZ采用D - PAK封裝,文檔給出了詳細(xì)的機(jī)械尺寸圖。同時(shí)提醒大家,封裝圖紙可能會(huì)隨時(shí)更改,建議訪問Fairchild Semiconductor的在線封裝區(qū)域獲取最新的封裝圖紙。
七、商標(biāo)與免責(zé)聲明
文檔中列出了Fairchild Semiconductor及其全球子公司擁有的眾多商標(biāo)。同時(shí)強(qiáng)調(diào)了公司對產(chǎn)品的免責(zé)聲明,包括有權(quán)隨時(shí)更改產(chǎn)品設(shè)計(jì)、不承擔(dān)產(chǎn)品應(yīng)用或使用中的任何責(zé)任、不授予專利權(quán)利等。此外,明確指出產(chǎn)品不授權(quán)用于生命支持系統(tǒng)或FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備等關(guān)鍵應(yīng)用領(lǐng)域。
八、產(chǎn)品狀態(tài)定義
文檔對產(chǎn)品狀態(tài)進(jìn)行了定義,包括提前信息(Formative / In Design)、初步(First Production)、無需標(biāo)識(Full Production)和過時(shí)(Not In Production)等不同狀態(tài)及其含義。這有助于工程師了解產(chǎn)品的開發(fā)和生產(chǎn)階段,合理選擇合適的產(chǎn)品進(jìn)行設(shè)計(jì)。
在實(shí)際設(shè)計(jì)中,電子工程師需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,綜合考慮FDD5N50NZ的各項(xiàng)參數(shù)和特性,合理選擇和使用該器件。同時(shí),要關(guān)注產(chǎn)品編號的變更以及相關(guān)的免責(zé)聲明和安全注意事項(xiàng),確保設(shè)計(jì)的可靠性和安全性。大家在使用過程中遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。
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