動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-09-24 18:02
汽車(chē)玻璃可見(jiàn)光透射率VLT標(biāo)準(zhǔn)70%：關(guān)乎道路安全的關(guān)鍵指標(biāo)
在國(guó)際窗膜協(xié)會(huì)澳大利亞分會(huì)（IWFAA）的持續(xù)游說(shuō)下，澳大利亞多地已允許將汽車(chē)前側(cè)窗的可見(jiàn)光透射率（VLT）標(biāo)準(zhǔn)從70%降至35%，以期實(shí)現(xiàn)全國(guó)規(guī)范統(tǒng)一。然而，這一提議引發(fā)了重要的道路安全隱患：前側(cè)窗作為駕駛員觀察側(cè)向交通、識(shí)別行人及騎行者的關(guān)鍵視覺(jué)通道，其透光率的大幅降低將直接削弱在夜間、低光照或復(fù)雜路況下的視覺(jué)識(shí)別能力。Flexfilm汽車(chē)玻璃透過(guò)率檢測(cè) -
發(fā)布了文章 2025-09-22 18:05
從數(shù)據(jù)到模型：臺(tái)階儀如何實(shí)現(xiàn)高精度微結(jié)構(gòu)測(cè)量
為解決臺(tái)階儀在微結(jié)構(gòu)測(cè)量中的點(diǎn)云配準(zhǔn)精度不足、系統(tǒng)誤差難補(bǔ)償及傳統(tǒng)校準(zhǔn)離散、導(dǎo)軌誤差大等問(wèn)題，費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案，F(xiàn)lexfilm探針式臺(tái)階儀可以實(shí)現(xiàn)表面微觀特征的精準(zhǔn)表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測(cè)量，精確測(cè)定樣品的表面臺(tái)階高度與膜厚，為材料質(zhì)量把控和生產(chǎn)效率提升提供數(shù)據(jù)支撐。本研究提出融合增強(qiáng)型ICP與SIL的表面匹配方法，輔以多 -
發(fā)布了文章 2025-09-19 18:03
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發(fā)布了文章 2025-09-17 18:03
衍射光學(xué)元件DOE：臺(tái)階高度與位置誤差的測(cè)量
衍射光學(xué)元件（DOE）因其在波前調(diào)制和色差校正方面的優(yōu)勢(shì)，廣泛應(yīng)用于紅外光學(xué)系統(tǒng)等領(lǐng)域。然而，其非連續(xù)面形結(jié)構(gòu)（如相位突變點(diǎn)和臺(tái)階高度）使得傳統(tǒng)檢測(cè)方法難以滿(mǎn)足精度要求。費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案，F(xiàn)lexfilm探針式臺(tái)階儀可以實(shí)現(xiàn)表面微觀特征的精準(zhǔn)表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測(cè)量，精確測(cè)定樣品的表面臺(tái)階高度與膜厚，為材料質(zhì)量把控和生產(chǎn)效 -
發(fā)布了文章 2025-09-15 18:02
橢偏儀選型指南 | 橢圓偏振法與反射法的優(yōu)劣對(duì)比
橢圓偏振法和反射法是用于表面分析和薄膜表征的光學(xué)測(cè)量技術(shù)。這兩種方法都依賴(lài)于光反射：橢圓偏振法分析反射光偏振狀態(tài)的變化，反射法則測(cè)量其強(qiáng)度。橢圓偏振法和反射法之間的選擇取決于測(cè)量原理、靈敏度和數(shù)據(jù)解釋要求。每種技術(shù)在材料科學(xué)和表面分析中都有特定的作用。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對(duì)薄膜的厚度與折射率的高精度表征，廣泛應(yīng)用于薄膜材料、半導(dǎo)體和表面科學(xué)801瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-09-12 18:10
汽車(chē)玻璃透光率≥70%的吸水防霧微米膜層的制備
汽車(chē)玻璃的防霧功能是保障駕駛安全的關(guān)鍵，當(dāng)前前檔玻璃可通過(guò)空調(diào)、后檔玻璃可通過(guò)電加熱實(shí)現(xiàn)防霧，但邊窗玻璃因結(jié)構(gòu)限制（多為單層鋼化玻璃），現(xiàn)有防霧手段均不適用。同時(shí)，已有的防霧材料普遍存在耐候性差、耐磨性不足、易黃變等問(wèn)題，難以滿(mǎn)足汽車(chē)玻璃長(zhǎng)期使用需求。本研究設(shè)計(jì)雙層結(jié)構(gòu)吸水防霧膜，通過(guò)分層功能分工實(shí)現(xiàn)高效防霧與穩(wěn)定性能。通過(guò)Flexfilm汽車(chē)玻璃透過(guò)率檢測(cè) -
發(fā)布了文章 2025-09-10 18:04
臺(tái)階儀在大面積硬質(zhì)涂層的應(yīng)用：精準(zhǔn)表征形貌與蝕刻 / 沉積結(jié)構(gòu)參數(shù)
PVD硬質(zhì)涂層的表面形貌直接影響其摩擦學(xué)、潤(rùn)濕性等功能性能，而精準(zhǔn)表征形貌特征是優(yōu)化涂層工藝的關(guān)鍵。臺(tái)階儀因可實(shí)現(xiàn)大掃描面積的三維形貌成像與粗糙度量化，成為研究PVD涂層形貌的核心工具。費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案，F(xiàn)lexfilm探針式臺(tái)階儀可以實(shí)現(xiàn)表面微觀特征的精準(zhǔn)表征與關(guān)鍵參數(shù)的定量測(cè)量，精確測(cè)定樣品的表面臺(tái)階高度與膜厚，為材料 -
發(fā)布了文章 2025-09-08 18:02
橢偏儀在半導(dǎo)體薄膜厚度測(cè)量中的應(yīng)用：基于光譜干涉橢偏法研究
薄膜厚度的測(cè)量在芯片制造和集成電路等領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。橢偏法具備高測(cè)量精度的優(yōu)點(diǎn)，利用寬譜測(cè)量方式可得到全光譜的橢偏參數(shù)，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)薄膜的厚度測(cè)量。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對(duì)薄膜的厚度與折射率的高精度表征，廣泛應(yīng)用于薄膜材料、半導(dǎo)體和表面科學(xué)等領(lǐng)域。為解決半導(dǎo)體領(lǐng)域常見(jiàn)的透明硅基底上薄膜厚度測(cè)量的問(wèn)題并消除硅層的疊加信號(hào)，本文提出基于光譜干 -
發(fā)布了文章 2025-09-05 18:03
臺(tái)階儀精準(zhǔn)測(cè)量薄膜工藝中的膜厚：制備薄膜理想臺(tái)階提高膜厚測(cè)量的準(zhǔn)確性
固態(tài)薄膜因獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì)與功能在諸多領(lǐng)域受重視，其厚度作為關(guān)鍵工藝參數(shù)，準(zhǔn)確測(cè)量對(duì)真空鍍膜工藝控制意義重大，臺(tái)階儀法因其能同時(shí)測(cè)量膜厚與表面粗糙度而被廣泛應(yīng)用于航空航天、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案，F(xiàn)lexfilm探針式臺(tái)階儀可以精確多種薄膜樣品的薄膜厚度。臺(tái)階儀法需在薄膜表面制備臺(tái)階，通過(guò)測(cè)量臺(tái)階高度反推膜厚。然 -
發(fā)布了文章 2025-09-03 18:04
橢偏儀在集成電路檢測(cè)中的應(yīng)用：以標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)法校準(zhǔn)橢偏參數(shù)
橢偏術(shù)因其高靈敏度、非接觸與在線(xiàn)測(cè)量能力，已成為薄膜與IC工藝檢測(cè)的重要手段。但儀器的準(zhǔn)確性依賴(lài)系統(tǒng)中偏振元件與幾何參數(shù)的精確校準(zhǔn)，且在工業(yè)環(huán)境中這些參數(shù)會(huì)隨時(shí)間與環(huán)境漂移變化——因此需要快速、簡(jiǎn)單且準(zhǔn)確的校準(zhǔn)方法以維持儀器性能。傳統(tǒng)校準(zhǔn)方法（如雙區(qū)域法）在實(shí)施上復(fù)雜且不易在生產(chǎn)線(xiàn)上周期性重復(fù)。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對(duì)薄膜的厚度與折射率的高精
