動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-07-22 09:51

  臺(tái)階儀在3D打印中的應(yīng)用：精確測(cè)量物體表面粗糙度

  

  增材制造（AM）技術(shù)通過(guò)逐層堆積材料實(shí)現(xiàn)復(fù)雜結(jié)構(gòu)成型，但3D打印表面質(zhì)量存在層厚均勻性和組裝方式導(dǎo)致的臺(tái)階效應(yīng)問(wèn)題，表面粗糙度直接影響機(jī)械性能與功能可靠性，尤其在航空航天、生物醫(yī)療等領(lǐng)域至關(guān)重要。因此精確測(cè)量表面輪廓成為提升打印質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文提出基于多模-無(wú)芯-多模（MCM）光纖的低成本曲率傳感器，通過(guò)探針位移-曲率-光強(qiáng)調(diào)制機(jī)制實(shí)現(xiàn)表面輪廓實(shí)時(shí)測(cè)量。

  3D打印 測(cè)量

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• 發(fā)布了文章 2025-07-22 09:51

  BIPV建筑一體化的熱電平衡 | 光譜選擇性薄膜的透射率調(diào)控

  

  技術(shù)支持：180-1566-6117建筑光伏一體化（BIPV）技術(shù)因響應(yīng)“碳中和”目標(biāo)而快速發(fā)展。然而，現(xiàn)有半透明光伏技術(shù)（如鈣鈦礦電池）雖能兼顧發(fā)電與透光，但其成本高、耐久性差限制了商業(yè)化應(yīng)用。傳統(tǒng)光伏模塊（如晶硅電池）雖效率高，但完全遮擋光線，導(dǎo)致室內(nèi)熱增益增加。因此，光譜選擇性設(shè)計(jì)成為解決這一問(wèn)題的有效途徑。本研究開(kāi)發(fā)了一種柔性PDMS/ITO/PET

  光伏 光譜 晶硅電池

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• 發(fā)布了文章 2025-07-22 09:51

  臺(tái)階儀應(yīng)用 | 半導(dǎo)體GaAs/Si異質(zhì)外延層表面粗糙度優(yōu)化

  

  在半導(dǎo)體行業(yè)中，硅基光電子技術(shù)是實(shí)現(xiàn)光互聯(lián)、突破集成電路電互聯(lián)瓶頸的關(guān)鍵，而在硅si襯底上外延生長(zhǎng)高質(zhì)量GaAs薄膜是硅基光源單片集成的核心。臺(tái)階儀作為重要的表征工具，在GaAs/Si異質(zhì)外延研究中，通過(guò)對(duì)樣品表面粗糙度的測(cè)試，為優(yōu)化生長(zhǎng)工藝、提升薄膜質(zhì)量提供了關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐，對(duì)探究外延片生長(zhǎng)規(guī)律具有重要意義。1實(shí)驗(yàn)方法flexfilm本研究中使用臺(tái)階儀通過(guò)接

  光電子 半導(dǎo)體 測(cè)試

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• 發(fā)布了文章 2025-07-22 09:51

  橢偏儀原理和應(yīng)用 | 精準(zhǔn)測(cè)量不同基底光學(xué)薄膜TiO?/SiO?的光學(xué)常數(shù)

  

  橢偏儀作為表征光學(xué)薄膜性能的核心工具，在光學(xué)薄膜領(lǐng)域具有不可替代的作用。本研究聚焦基底類(lèi)型（K9玻璃、石英玻璃、單晶硅）對(duì)溶膠-凝膠法制備的TiO?和SiO?薄膜光學(xué)性能的調(diào)控機(jī)制。Flexfilm費(fèi)曼儀器作為國(guó)內(nèi)領(lǐng)先的薄膜材料檢測(cè)解決方案提供商，致力于為全球工業(yè)智造提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案。其中全光譜橢偏儀可以精確量化薄膜的折射率、消光系數(shù)及厚度參數(shù)，揭示基底

  儀器 測(cè)量

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• 發(fā)布了文章 2025-07-22 09:51

  臺(tái)階儀在Micro LED巨量轉(zhuǎn)移中的應(yīng)用 | 測(cè)量PDMS微柱尺寸提升良率

  

  微型發(fā)光二極管Micro-LED顯示技術(shù)是一種新興技術(shù)。它在可穿戴設(shè)備、虛擬現(xiàn)實(shí)、手機(jī)，微投影顯示器等便攜式應(yīng)用中具有巨大的潛力。本研究聚焦Micro-LED巨量轉(zhuǎn)印技術(shù)中彈性印章（PDMS材質(zhì)）的關(guān)鍵制程參數(shù)優(yōu)化。半導(dǎo)體制造中表面粗糙度測(cè)量非常重要，F(xiàn)lexfilm費(fèi)曼儀器作為國(guó)內(nèi)領(lǐng)先的薄膜材料檢測(cè)解決方案提供商，其提供的Flexfilm探針式臺(tái)階儀可以用

  Micro LED 二極管 測(cè)量

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• 發(fā)布了文章 2025-07-21 18:17

  薄膜厚度高精度測(cè)量 | 光學(xué)干涉+PPS算法實(shí)現(xiàn)PCB/光學(xué)鍍膜/半導(dǎo)體膜厚高效測(cè)量

  

  透明薄膜在光學(xué)器件、微電子封裝及光電子領(lǐng)域中具有關(guān)鍵作用，其厚度均勻性直接影響產(chǎn)品性能。然而，工業(yè)級(jí)微米級(jí)薄膜的快速測(cè)量面臨挑戰(zhàn)：傳統(tǒng)干涉法設(shè)備龐大、成本高，分光光度法易受噪聲干擾且依賴校準(zhǔn)樣品。本文本文基于FlexFilm單點(diǎn)膜厚儀的光學(xué)干涉技術(shù)框架，提出一種基于共焦光譜成像與薄膜干涉原理的微型化測(cè)量系統(tǒng)，結(jié)合相位功率譜（PPS）算法，實(shí)現(xiàn)了無(wú)需校準(zhǔn)的高效

  pcb PCB 半導(dǎo)體 高精度測(cè)量

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• 發(fā)布了文章 2025-07-21 18:17

  全光譜橢偏儀測(cè)量：金屬/半導(dǎo)體TMDs薄膜光學(xué)常數(shù)與高折射率特性

  

  過(guò)渡金屬二硫族化合物（TMDs）因其獨(dú)特的激子效應(yīng)、高折射率和顯著的光學(xué)各向異性，在納米光子學(xué)領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大潛力。本研究采用Flexfilm全光譜橢偏儀結(jié)合機(jī)械剝離技術(shù)，系統(tǒng)測(cè)量了多種多層TMD薄膜材料的光學(xué)常數(shù)。研究表明，半導(dǎo)體性TMD（如MoTe?）表現(xiàn)出極高的折射率（n∥≈4.84）和強(qiáng)雙折射（Δn≈1.54），而金屬性TMD（如TaS?）在近紅外波段

  TMDS 半導(dǎo)體 測(cè)量

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• 發(fā)布了文章 2025-07-21 18:17

  芯片制造中高精度膜厚測(cè)量與校準(zhǔn)：基于紅外干涉技術(shù)的新方法

  

  在先進(jìn)光學(xué)、微電子和材料科學(xué)等領(lǐng)域，透明薄膜作為關(guān)鍵工業(yè)組件，其亞微米級(jí)厚度的快速穩(wěn)定測(cè)量至關(guān)重要。芯片制造中，薄膜襯底的厚度直接影響芯片的性能、可靠性及功能實(shí)現(xiàn)，而傳統(tǒng)紅外干涉測(cè)量方法受機(jī)械振動(dòng)、環(huán)境光干擾及薄膜傾斜等因素限制，測(cè)量精度難以滿足高精度工業(yè)需求。為此，本研究提出一種融合紅外干涉與激光校準(zhǔn)的薄膜厚度測(cè)量新方法，旨在突破傳統(tǒng)技術(shù)瓶頸，實(shí)現(xiàn)更精準(zhǔn)、

  測(cè)量 芯片制造

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• 發(fā)布了文章 2025-07-21 18:17

  芯片制造中的膜厚檢測(cè) | 多層膜厚及表面輪廓的高精度測(cè)量

  

  隨著物聯(lián)網(wǎng)(IoT)和人工智能(AI)驅(qū)動(dòng)的半導(dǎo)體器件微型化，對(duì)多層膜結(jié)構(gòu)的三維無(wú)損檢測(cè)需求急劇增長(zhǎng)。傳統(tǒng)橢偏儀僅支持逐點(diǎn)膜厚測(cè)量，而白光干涉法等技術(shù)難以分離透明薄膜的多層反射信號(hào)。本文提出一種單次曝光光譜分辨干涉測(cè)量法，通過(guò)偏振編碼與光譜分析結(jié)合，首次實(shí)現(xiàn)多層膜厚度與3D表面輪廓的同步實(shí)時(shí)測(cè)量。并使用Flexfilm探針式臺(tái)階儀對(duì)新方法的檢測(cè)精度進(jìn)行驗(yàn)證。

  半導(dǎo)體 測(cè)量 芯片制造

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• 發(fā)布了文章 2025-07-21 18:17

  分光光度法結(jié)合進(jìn)化算法精確測(cè)定：金屬氧化物薄膜厚度與光學(xué)常數(shù)

  

  薄膜厚度和復(fù)折射率的測(cè)定通常通過(guò)橢圓偏振術(shù)或分光光度法實(shí)現(xiàn)。本研究采用Flexfilm大樣品倉(cāng)紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì)精確測(cè)量薄膜的反射率（R）和透射率（T）光譜，為反演光學(xué)參數(shù)提供高精度實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。該方法在太陽(yáng)能電池、傳感器等領(lǐng)域至關(guān)重要，解決了傳統(tǒng)優(yōu)化算法易陷入局部最優(yōu)、商業(yè)軟件依賴初始猜測(cè)敏感的問(wèn)題。通過(guò)進(jìn)化算法（EAs）的群體搜索策略，實(shí)現(xiàn)了從350–

  傳感器 測(cè)定

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